Leica EM RES102
Fresado con haz de iones
Preparación de muestras de ME
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Leica EM RES102 Sistema de fresado con haz de iones
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SEM
Portamuestras para mejorar la limpieza, el pulido y el contraste de muestras de SEM y LM a temperatura ambiente o con refrigeración mediante LN2. El soporte para SEM permite preparar muestras de hasta…
SEM
Soporte cortador de plano inclinado para la producción de secciones transversales (90°) y anguladas (35°) para la investigación mediante SEM de muestras de estructura vertical. Las muestras se pueden…
SEM
Soporte de sujeción para SEM para muestras pequeñas, de 5 (altura) x 7 (ancho) x 2 (diámetro) mm como máximo. Este soporte se transfiere fácilmente al SEM sin tener que extraer la muestra.
TEM
Portamuestras (soporte de sujeción rápida) para el fresado por un lado o por los dos de ángulos reducidos, hasta 4°.
TEM
Soporte refrigerador para la preparación de muestras sensibles a la temperatura en combinación con el dispositivo de refrigeración mediante LN2.
FIB
Soporte de limpieza que sirve para reducir la capa amorfizada de las muestras de FIB.