Leica EM TIC020
Polissage ionique
Préparation d’échantillons pour MET/MEB
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Leica EM TIC020 Système de polissage ionique en cross section, triple canon
Produit archivé
Remplacé par
Leica EM TIC 3X
En août 2011, le nouveau système de polissage Leica EM TIC 3X a été lancé ; il remplace le Leica EM TIC020 !
Le Leica EM TIC020, destiné à la préparation d'échantillons de coupe, permet une préparation précise et efficace d'échantillons spécifiques pour l'analyse MEB.
Obtenir des coupes transversales de haute qualité à partir de presque tout matériau. Supports à échantillons permettant une taille d'échantillon allant jusqu'à 50 x 50 x 10 mm. Une préparation mécanique minime est requise. Le système dispose de trois faisceaux ioniques dotés de trois axes et d'un microscope d'examen.
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