Leica EM TIC020 Système de polissage ionique en cross section, triple canon

En août 2011, le nouveau système de polissage Leica EM TIC 3X a été lancé ; il remplace le Leica EM TIC020 !

Le Leica EM TIC020, destiné à la préparation d'échantillons de coupe, permet une préparation précise et efficace d'échantillons spécifiques pour l'analyse MEB.

Obtenir des coupes transversales de haute qualité à partir de presque tout matériau. Supports à échantillons permettant une taille d'échantillon allant jusqu'à 50 x 50 x 10 mm. Une préparation mécanique minime est requise. Le système dispose de trois faisceaux ioniques dotés de trois axes et d'un microscope d'examen.