Système mécanique de surfaçage et ciblage Leica EM TXP

Système mécanique de surfaçage et ciblage Leica EM TXP

Domaines d'application

Préparation d'échantillon en science des matériaux

La préparation d'échantillon est primordiale pour observer à la surface de l'échantillon les textures et détails les plus fins en haute résolution. Disposer pour la pré-préparation du flux de travail…

Industrie Horlogère Microscopes

Pour les horlogers et l'industrie horlogère, la haute précision des stéréomicroscopes Leica facilite l'assemblage de montres et l'inspection fiable nécessaire à une excellente qualité et à une…

Industrie automobile et transport

Améliorez la fiabilité et la précision de votre travail dans le secteur de la production automobile et des transports. Les solutions d'imagerie microscopique de Leica Microsystems améliorent votre…

Microscopes pour l'ingénierie des métaux et le génie mécanique

Votre travail dans l'ingénierie des métaux et le génie mécanique nécessite des solutions d'imagerie microscopique qui vous aident à assembler, inspecter, mesurer, analyser et documenter vos résultats…

Microscopes pour analyse de matériaux

L’analyse de matériaux nécessite des solutions de microscope pour l’imagerie, la mesure et l’analyse de caractéristiques dans divers matériaux tels que les alliages métalliques, les semiconducteurs,…
Scroll to top