Workshop – Ionenstrahlpräparation von Festkörperproben

Proben für die Elektronenmikroskopie. Das Probenmaterial wird dabei mit einem hochenergetischen Argon-Ionenstrahl beschossen. Die Ionenenergie und der Beschusswinkel hängen von der entsprechenden Anwendung ab.

In diesem 1-tägigen Workshop werden Sie Zeit haben, um mit unseren Spezialisten Ihre Präparationsprobleme zu diskutieren. In mehreren Hands-on Sessions an EM TXP (Präzisionsinstrument zur Probenvorbereitung) und an EM TIC 3X (Ionenstrahlätzsystem) erfahren Sie:

• Welche Bedeutung spielt die Vorpräparation der Proben?
• Was ist wichtig für eine erfolgreiche Zielpräparation?
• Was ist das Besondere an der „Triple-Beam-Technik"?
• Wie präpariert man Proben mit unregelmäßiger Form?

Bringen Sie zum Workshop Ihre eigenen Proben mit und sichern Sie sich einen von 20 Teilnehmerplätzen, bitte registrieren Sie sich.

Programm

 8.30–9.30 Begrüßung

9.30–9.40 Überblick

9.40–10.00 Vorstellung des SNI

10.00–10.45 Einführung in das Ion Beam Milling

10.45–11.15 Kaffeepause

11.15–12.00 Probenvorbereitung – Eigenschaften und Herausforderungen

12.00–13.00 Mittagspause

13.00–14.30 Praktische Arbeit mit EM TXP & EM TIC 3X

14.30–15.00 Kaffeepause

15.00–16.30 Praktische Arbeit mit EM TXP & EM TIC 3X (Fortsetzung)

16.30–17.30 Abschlussrunde und Feedback

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