DM3 XL
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Leica Microsystems
DM3 XL Il sistema di ispezione per microelettronica e semiconduttori
Ispezione veloce per un'azione veloce
Prodotto fuori commercio
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La velocità conta nei processi di ispezione, controllo di processo, analisi dei difetti e nella failure analysis nella microelettronica e nei semiconduttoriPiù velocemente si riesce a rilevare un difetto, più velocemente sarà possibile correggerlo.
Campo visivo incrementato del 30%
Con un ampio campo visivo, il sistema di ispezione DM3 XL consente al vostro team di identificare i difetti più velocemente e di incrementare il tasso di rendimento. Sfruttate il campo visivo incrementato del 30% grazie ad un obiettivo macro unico nel suo genere.
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