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Leica EM TRIM2 Trimming Systems Sample Preparation for Electron Microscopy Products Home Leica Leica Microsystems

TEM, SEM, LM用トリミング装置 Leica EM TRIM2

  • 自動車&輸送機器業界

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  • Perusing Alternatives for Automated Staining of TEM Thin Sections

    Contrast in transmission electron microscopy (TEM) is mainly produced by electron scattering at the specimen: Structures that strongly scatter electrons are referred to as electron dense and appear as…
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