EM TIC 3X Sistema configurable de fresado por haz de iones
Preparación precisa de la superficie. Diseño simplificado.
FAQs EM TIC 3X
El fresado por haz de iones es una técnica de preparación de muestras que utiliza iones de argón de alta energía para eliminar material de la superficie de una muestra. El EM TIC 3X utiliza un sistema de triple haz de iones para crear superficies de alta calidad para SEM, EBSD y otras técnicas de microscopía.
El EM TIC 3X proporciona superficies libres de defectos, esenciales para la obtención de imágenes SEM de alta resolución. Su diseño de triple haz de iones garantiza un fresado uniforme y un daño mínimo de la muestra, por lo que resulta ideal para las ciencias de los materiales y el análisis de fallos.
El sistema es adecuado para una amplia gama de materiales, incluidos metales, cerámicas, polímeros, materiales compuestos y muestras biológicas. Maneja tanto materiales duros como blandos con gran precisión.
La configuración de triple haz permite el fresado simultáneo desde tres ángulos, reduciendo la redeposición, las estrías y mejorando la planitud de la superficie. El resultado es una calidad de imagen superior y unos resultados analíticos más precisos.
Sí, el sistema admite etapas de criotransferencia y transferencia al vacío, lo que permite la preparación de muestras sensibles a la temperatura o al aire sin exposición al aire ni cambios estructurales relacionados con la temperatura.
Puede procesar muestras de hasta 25 x 20 x 5 mm (de grosor), lo que lo hace versátil para diversas aplicaciones industriales y de investigación.
Sí, se integra perfectamente con el EM TXP para la preparación mecánica previa, lo que permite un flujo de trabajo completo desde el corte y el pulido hasta el fresado iónico final. También es compatible con el sistema de transferencia EM VCT500 y el recubridor EM ACE600, lo que proporciona un flujo de trabajo completo y optimizado para la preparación de superficies.
El fresado por haz de iones proporciona superficies más limpias y uniformes con menos defectos. Es especialmente beneficioso para materiales delicados o heterogéneos en los que los métodos mecánicos pueden causar daños.
El fresado iónico es un proceso de grabado físico utilizado para eliminar material de la superficie de una muestra mediante un haz focalizado de iones, normalmente de argón. Se utiliza principalmente en microscopía electrónica para preparar superficies o secciones transversales ultrasuaves y libres de defectos para la obtención de imágenes de alta resolución y su análisis.
Ventajas:
- Produce superficies limpias y sin daños
- Adecuado para materiales duros, blandos y heterogéneos
- Ideal para alisar y pulir secciones transversales creadas por métodos mecánicos (por ejemplo, con el EM TXP)
- Método sin contacto, que reduce la tensión mecánica
Limitaciones:
- Más lento que los métodos mecánicos para el rebaje basto
- El equipo puede ser costoso y requiere sistemas de vacío
- No es ideal para la eliminación de material a gran escala
El fresado por haz de iones funciona acelerando iones (normalmente argón) hacia la superficie de una muestra en el vacío. La energía cinética de los iones elimina físicamente los átomos de la superficie, lo que permite un rebaje controlado del material. Este proceso es altamente direccional y preciso, por lo que resulta ideal para el análisis microestructural.
