Contactez-nous
Contactez-nous

DM2700 M Microscope droit pour matériaux avec éclairage LED universel

Lire nos derniers articles

Particulate contamination in between moving metal plates.

Key Factors for Efficient Cleanliness Analysis

An overview of the key factors necessary for technical cleanliness and efficient cleanliness analysis concerning automotive and electronics manufacturing and production is provided in this article.
Type of contamination: spores

Cleanliness Analysis for Particulate Contamination

Devices, products, and their components fabricated in many industries can be quite sensitive to contamination and, as a result, have stringent requirements for technical cleanliness. Measurement…

Challenges Faced When Manually Rating Non-Metallic Inclusions (NMIs) to Determine Steel Quality

Rapid, accurate, and reliable rating of non-metallic inclusions (NMIs) is instrumental for the determination of steel quality. This article describes the challenges that arise from manual NMI rating,…

Reasons Why There is Growing Need for Fast and Reliable Steel Quality Rating Solutions

Steel quality is critical for the manufacturing of high-quality components and products. Fast, reliable, and accurate detection and classification of inclusions has become essential for both component…

Top Issues Related to Standards for Rating Non-Metallic Inclusions in Steel

Supplying components and products made of steel to users worldwide can require that a single batch be compliant with multiple steel quality standards. This user demand creates significant challenges…

Rate the Quality of Your Steel: Free Webinar and Report

This webinar and report describe optimal microscopy solutions for rating steel quality in terms of non-metallic inclusions and reviews the various international and regional standards concerning…

Brief Introduction to Surface Metrology

This report briefly discusses several important metrology techniques and standard definitions commonly used to assess the topography of surfaces, also known as surface texture or surface finish. With…
Measuring grains size with Abrams Three-Circle Procedure.

How to Adapt Grain Size Analysis of Metallic Alloys to Your Needs

Metallic alloys, such as steel and aluminum, have an important role in a variety of industries, including automotive and transportation. In this report, the importance of grain size analysis for alloy…

Métallographie

Les microscopes métallographiques Leica sont optimisés pour l’analyse de la microstructure de métaux, d’alliages et d’autres matériaux.

Domaines d'application

Évaluation de la Qualité de l’Acier

Une efficacité améliorée pour l’évaluation des inclusions non métalliques permet aux fournisseurs d’acier et aux fabricants industriels de vérifier la qualité de l’acier en moins de temps afin…

Microscopes pour la conservation de l'art

Analyser, restaurer, conserver et documenter les œuvres artistiques ou les biens culturels requiert des compétences techniques complexes et l'utilisation de technologies d'imagerie de pointe, en…

Inspection des semi-conducteurs

Réalisez une inspection rapide et fiable des plaquette et des semi-conducteurs pour le traitement des plaquettes, ainsi que le conditionnement, l’assemblage et les tests des circuits intégrés, avec…

Métallographie

Les microscopes métallographiques Leica sont optimisés pour l’analyse de la microstructure de métaux, d’alliages et d’autres matériaux.

Microscopes d’inspection

Leica Microsystems propose une variété de microscopes d’inspection pour les applications industrielles. Nos experts peuvent vous aider à trouver la solution optimale.

Marchés de la microscopie industrielle

L'optimisation du temps de fonctionnement et la réalisation efficace des objectifs contribuent à votre résultat net. Les solutions de microscopie de Leica peuvent vous donner un aperçu des plus petits…

Industrie des métaux

Les solutions de microscope Leica dédiées à l’industrie des métaux servent à évaluer la qualité des métaux et à s’assurer de la conformité aux normes applicables.

Analyse transversale pour l’électronique

L’analyse transversale pour l’électronique permet une analyse détaillée des mécanismes de défaillance des composants tels que les cartes (PCB) et assemblages de cartes de circuits imprimés (PCBA) et…
Scroll to top