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Leica DCM8 Upright Microscopes Confocal Microscopes Leica Leica Microsystems

最高の精密さと繰り返し精度を実現

ライカDCM8は、コンフォーカル顕微鏡と白色光干計の2つの測定技術を一台に統合したハイブリッドソリューション。

簡単操作で、ニーズに応じた3次元表面形状解析を高精度、高速に、1台で実現します。

HD共焦点顕微鏡により、高さ方向の垂直解像度は最大2nmを実現。マテリアル研究や自動車関連、マイクロエレクトロニクス、医療機器、航空宇宙産業など多様な産業分野での

研究開発、品質管理に最適なソリューションです。

試料の微細構造に応じて白色干渉計では3つのモード、白色干渉計(WLI)/垂直走査白色干渉法(VSI)/位相シフト干渉(PSI)から選択できます。最大0.1 nmの解像度が実現でき、凹凸が非常に微細な滑らかな表面にも対応しています。

マイクロスコープとして明視野と暗視野観察に対応しており、高解像で鮮明な画像を取得し、解析することができます。

 

 

表面データをすばやく取得

Leica DCM8は、シリコン強誘電体液晶(FLCoS)を用いた、最新HDマイクロディスプレイスキャン技術を採用しています。センサーヘッドに可動部分がないため、迅速で繰り返し精度の高いデータ取得が保証されます。

広視野、高解像度カメラを搭載。広い視野をワンショットで撮影でき、ワークフローを効率化します。

独自のスティッチングアルゴリズムにより、凹凸状態によらず、高精細、ピントがあった3Dかつ広視野の連結画像が得られます。

最高の画像

ライカDCM8は青、緑、赤、白の4LEDを搭載しています。HD CCDカメラと4LED搭載により、ライカDCM8はシャープなフルカラー画像を取得できます。LEDを連続的に点滅させることで、各ピクセルのトゥルーカラー情報を記録します。

シンプルなのに多機能を1台に融合

ライカDCM8はシリコン強誘電体液晶(FLCoS)を用いた、最新のHD高精細表示技術により、稼動部がなく、高速で再現性の高いスキャンを可能にします。高機能でありながらシステム構成はCCDカメラと4つのLED光源でシンプル。ノイズフリー、メンテナンスフリーで、長寿命を実現しています。

効率的な分析

ライカDCM8のソフトウェアはアイコンベースのわかりやすいインターフェースで、画像取得から分析までどなたでも簡単に操作できます。繰り返し同じ測定を行う場合、ワンクリックで事前に定義されたプログラムで効率的に測定できます。

ルーチン検査で必要な二次元解析では、ライカで実績あるLeica Application Suiteが利用可能です。二点間距離、面積などの基本測定から二値化による形状解析まで、対応可能です。

サンプルに容易に適応

TライカDCM8はお客様のサンプルやニーズに合わせて構成を選択いただけます。反射表面、透過層表面、広い作業距離などニーズに合わせ、最高品質の対物レンズとともに、お客様の必要に応じて対応します。

スタンドと支柱は選択可能で、大きな試料でも快適に作業いただけます。4つのLEDはレジスト膜やUV硬化樹脂など、波長によってダメージのあるサンプルや、特定の波長を吸収するサンプルに対して最適波長を選択しての観察・測定が可能です。

XY分解能が必要な場合は、高い開口数(NA)の液浸対物レンズが利用可能です。透明層の下の表面の分析には、ライカ補正環付の対物レンズで焦点合わせを快適に 実施いただけます。

システムはHD CCDカメラおよびLED光源4個(赤、緑、青、白)を搭載し、真に写実的なカラー画像を実現しています。