
三次元表面形状解析
ライカDCM8のご紹介 Leica DCM8
ライカDCM8はコンフォーカル顕微鏡と白色干渉計のメリットを融合し、さまざまな試料の表面形状解析を1台で、高精度、高速に実現します。
最新のHD高精細表示技術により、稼動部がなく、高速で再現性の高いスキャンを可能にします。高機能でありながらシステム構成はCCDカメラと4つのLED光源でシンプル。静かで、メンテナンス不要な耐久性により長寿命を実現しています。
最高の精密さと繰り返し精度を実現
ライカDCM8は、コンフォーカル顕微鏡と白色光干計の2つの測定技術を一台に統合したハイブリッドソリューション。
簡単操作で、ニーズに応じた3次元表面形状解析を高精度、高速に、1台で実現します。
HD共焦点顕微鏡により、高さ方向の垂直解像度は最大2nmを実現。マテリアル研究や自動車関連、マイクロエレクトロニクス、医療機器、航空宇宙産業など多様な産業分野での
研究開発、品質管理に最適なソリューションです。
試料の微細構造に応じて白色干渉計では3つのモード、白色干渉計(WLI)/垂直走査白色干渉法(VSI)/位相シフト干渉(PSI)から選択できます。最大0.1 nmの解像度が実現でき、凹凸が非常に微細な滑らかな表面にも対応しています。
マイクロスコープとして明視野と暗視野観察に対応しており、高解像で鮮明な画像を取得し、解析することができます。
サンプルに容易に適応
TライカDCM8はお客様のサンプルやニーズに合わせて構成を選択いただけます。反射表面、透過層表面、広い作業距離などニーズに合わせ、最高品質の対物レンズとともに、お客様の必要に応じて対応します。
スタンドと支柱は選択可能で、大きな試料でも快適に作業いただけます。4つのLEDはレジスト膜やUV硬化樹脂など、波長によってダメージのあるサンプルや、特定の波長を吸収するサンプルに対して最適波長を選択しての観察・測定が可能です。
XY分解能が必要な場合は、高い開口数(NA)の液浸対物レンズが利用可能です。透明層の下の表面の分析には、ライカ補正環付の対物レンズで焦点合わせを快適に 実施いただけます。

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