Leica DM12000 M
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Leica DM12000 M 半導体検査顕微鏡（12インチウエハ用）<br>
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How to Boost your Microelectronic Component Inspection Performance
Do you need to see more when inspecting silicon wafers or MEMS? Would you like to get sharp and detailed sample images which are similar to those from electron microscopes?
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稼働時間を最大化し、生産性向上により、お客様の収益に貢献します。ライカの顕微鏡（マイクロスコープ）ソリューションは、微細な異物や残渣なども見逃しなく、迅速かつ信頼性の高い分析、文書化、結果報告を実現します。ライカマイクロシステムズは、幅広いソリューションとエキスパートによるサポートを提供し、さまざまなアプリケーションのニーズにお応えします。