EM TIC 3X Sistema configurable de fresado por haz de iones
Cree superficies de fresado de alta calidad utilizando tres haces anchos, revelando las verdaderas estructuras de la muestra para el análisis posterior de Microscopía Electrónica. Adaptable y flexible, el EM TIC 3X admite una amplia gama de experimentos con platinas fácilmente intercambiables y compatibilidad con soporte de muestras.
Las superficies prístinas permiten a los usuarios obtener resultados relevantes
Prepare superficies de alta calidad de diversos tipos de muestras, ya sean duras, blandas, quebradizas, heterogéneas o sensibles al calor. EM TIC 3X ayuda a revelar las estructuras internas de la muestra produciendo una calidad de superficie prístina.
- Cree superficies de fresado de alta calidad utilizando tres haces anchos, sin necesidad de girar la platina.
- Obtenga la mayor área de sección transversal para alcanzar el mayor rendimiento de análisis.
- Elija entre cinco platinas y varios soportes de muestras.
Prepare fácilmente estructuras enterradas
Nunca pierda su estructura objetivo, incluso si se trata de una característica enterrada. Alinee con precisión la muestra con la máscara y las pistolas de iones utilizando un microscopio estereoscópico. Observe y documente todo el proceso.
Preparación eficaz de muestras de láminas
Prepare cortes transversales de una o varias capas de láminas con una redeposición o delaminación mínimas. Frese con éxito una variedad de tipos de láminas para eliminar los defectos de la preparación mecánica y permitir un análisis SEM de alta resolución de los componentes de la batería.
Procese simplemente su muestra a través del flujo de trabajo
Aumente la eficacia y reduzca los pasos de manipulación con la compatibilidad del soporte de muestras. Utilice el mismo soporte para EM TXP y EM TIC 3X para todo el flujo de trabajo de preparación de superficies. Mantener un montaje y una orientación coherentes de la muestra a lo largo de todo el proceso de preparación disminuye el riesgo de daños y desalineación de la muestra.
Habilite una nueva gama de experimentos según sus necesidades
Obtenga una nueva platina para ampliar su gama de experimentos, sin necesidad de asistencia técnica ni tiempo de inactividad del instrumento, incluso para las crioplatinas.
- Platina estándar
- Platina de muestras múltiples
- Platina giratoria
- Platina de enfriamiento
- Estación de transferencia por vacío Cryo
EM TIC 3X es compatible con otros instrumentos Leica, incluidos EM VCT500 y EM ACE600.
