DM3 XL
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Leica Microsystems
DM3 XL Le système d'inspection pour la microélectronique et les semi-conducteurs
Détection rapide, action rapide
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La vitesse joue un rôle important dans l'inspection, le contrôle de processus ou l'analyse des défauts et des défaillances pour la microélectronique et l'Industrie des semi-conducteurs. Vous pouvez réagir d'autant plus vite que vous détectez vite un défaut.
30 % de champ visuel en plus
Avec un grand champ visuel, le système d'inspection DM3 XL permet à votre équipe d'identifier les défauts plus vite et d'augmenter votre taux de rendement. Profitez d'un champ visuel agrandi de 30 % grâce à l'exceptionnel objectif macro.
