Composants

Microscope d'analyse de matériaux DM6 M LIBS comprend :

Quantité

Reflector DF

11888740
1

Reflector BF, fixed

11888716
1

CTR compact XY

11525227
1

LED lamp housing DM6, cable long

11504242
1

Eyepiece HC PLAN s 10x/25 Br. M

11507808
2

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 5x/0,15 BD

11566046
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 10x/0,30 BD

11566503
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 20x/0,45 BD

11566509
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 50x/0,80 BD

11566201
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 100x/0,90 BD

11566203
1

LIBS standard sample

11560204
1

SpectralTools licence

11560205
1

LIBS module, complete

11560200
1

LIBS reflector cube

11561105
1

Microscope Objective 20x/0.40 LIBS NUV

11518149
1

Laser safety set for mot. stage

11560201
1

HP E27k G5 27inches UHD

11533663
1

Silver Workstation

11640714
1

DM6 M basic stand, LED RL, mot. Z

11889191
1

DM6 M Top,6x,M32,mot.,4x (RL,BD), mot.

11889213
1

Cover objective revolving nosepiece

11888105
1

Adapter XY-basic / XY-advanced

11505237
1

Smart Move for DM/DMI Series

11505180
1

Objective protection glass

11518150
1

Basic docu tube BDT, mech., 19 CIP

11505296
1

Tube adapter incl. 1 docu. port

11505161
1

Mot. Stage EK14, 76x50 (LIBS)

11560202
1

Slide holder IND

11561053
1

Spacer ring 32/25

11561097
1

Leica K3C

11547114
1

C-Mount HC 0.55x

11541544
1

LAS X Industry Core

11640620
1

Dongle for LAS X optional modules

11640879
1

LAS X Quantimet Basic SW Package

11640605
1

Keyboard UK; USB Hub

11600221
1

Advanced application training one day

9I_CM_APPLIC1
1

Service Installation

9I_CM_CLASS_H
1

>Spécifications

  • Comprend un gestionnaire de lumière pour un gain de temps et une utilisation facile. 
  • Pour une vue d'ensemble très rapide de l'échantillon, l'objectif 1,25x peut être adapté. 
  • Le gestionnaire de contraste intégré ajuste les paramètres requis pour chaque objectif et chaque mode de contraste de manière entièrement automatique, facilitant ainsi l'utilisation pour chaque utilisateur.
  • Moniteur HDMI 4k 27 po
  • Poste de travail W2 (pour l'imagerie avec des microscopes motorisés xyz)
  • Commande Z motorisée
  • Avec changeur de grossissement
  • Phototube HC L2TU 4/5/6
  • Tourelle d'objectif motorisée
  • Avec contraste DF
  • Automatisé (motorisé + balayage)
  • Platine de balayage 100x100 (2 mm)
  • Insert métallique 160x116
  • Échantillon standard LIBS

DM6 M LIBS Solution d'analyse de la composition des microstructures

Combinez l'inspection visuelle et la détermination de la nature des matériaux en une seule étape et bénéficiez d'un gain de temps de 90 % par rapport à une analyse effectuée au moyen des méthodes MEB/EDS conventionnelles. La fonction de spectroscopie laser intégrée fournit l'empreinte chimique exacte de la structure du matériau que vous voyez dans l'image du microscope, en une seconde.

Domaines d’application

Métallographie

L'analyse microstructurale des métaux, alliages et autres matériaux peut être optimisée en utilisant une solution de microscope métallographique Leica.

Industrie automobile et transport

Améliorez la fiabilité et la précision de votre travail dans le secteur de la production automobile et des transports. Les solutions d'imagerie microscopique de Leica Microsystems améliorent votre…

Propreté Technique

Pour les fabricants de produits industriels et électroniques ainsi que les applications pharmaceutiques non réglementées, les solutions pour une propreté technique efficace offrent des avantages…

Marchés de la microscopie industrielle

L'optimisation du temps de fonctionnement et la réalisation efficace des objectifs contribuent à votre résultat net. Les solutions de microscopie de Leica peuvent vous donner un aperçu des plus petits…

Industrie des métaux

Les solutions de microscope Leica dédiées à l’industrie des métaux servent à évaluer la qualité des métaux et à s’assurer de la conformité aux normes applicables.

Analyse transversale pour l’électronique

L’analyse transversale pour l’électronique permet une analyse détaillée des mécanismes de défaillance des composants tels que les cartes (PCB) et assemblages de cartes de circuits imprimés (PCBA) et…

Industrie électronique et des semi-conducteurs

Pour l’électronique et les semi-conducteurs, les solutions permettant une inspection efficace, une analyse de la section transversale et de la propreté, ainsi que la recherche et le développement de…

Fabrication de batteries

La fabrication de batteries comporte plusieurs défis clés en matière d’inspection. Des solutions pour la préparation des échantillons et l’analyse visuelle et chimique microscopique sont nécessaires.

Microscopes de mesure

Les microscopes de mesure sont utiles pour déterminer les dimensions des caractéristiques de l’échantillon lors du contrôle de qualité, de l’analyse des défaillances et de la recherche et du…

Analyse et science des matériaux

Les microscopes jouent un rôle clé dans l'analyse et la science des matériaux. Ils sont utilisés pour analyser les alliages métalliques, les céramiques et les polymères à des fins de recherche et de…
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