EM TXP Dispositif de coupe transversale

Votre point de départ pour l'inspection des coupes transversales en microscopie électronique et en microscopie optique

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EM Sample Preparation Brochure Workflows Material Sciences EN Feb 16, 2026 PDF, 19 MB Download	Feb 16, 2026	PDF, 19 MB	Download
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Poster
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Press release
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