EM TIC 3X Sistema di fresatura con fascio ionico configurabile
Create superfici di fresatura di alta qualità utilizzando tre ampi fasci, rivelando le strutture reali del campione da sottoporre ad analisi con un Microscopio Elettronico. Adattabile e flessibile, l'EM TIC 3X supporta un'ampia gamma di esperimenti grazie ai tavolini facilmente intercambiabili e alla compatibilità dei portacampioni.
Superfici incontaminate che consentono di ottenere risultati precisi
Preparate superfici di alta qualità di vari tipi di campioni, siano essi duri, morbidi, fragili, eterogenei o sensibili al calore. EM TIC 3X aiuta a rivelare le strutture interne del campione producendo una superficie di qualità incontaminata.
- Create superfici di fresatura di alta qualità utilizzando tre fasci larghi, senza bisogno di ruotare il tavolino.
- Ricavate l'area della sezione trasversale più ampia per ottenere la massima resa delle analisi.
- Scegliete tra cinque tavolini e diversi portacampioni.
Facile preparazione delle strutture interne
Non perdete mai di vista la struttura del target, anche se si tratta di una caratteristica interna. Allineate con precisione il campione alla maschera e ai fasci ionici utilizzando uno stereomicroscopio. Osservate e documentate l'intero processo.
Preparazione efficiente di campioni di lamina
Preparate sezioni trasversali di strati singoli o multipli con una rideposizione o delaminazione minima. Potete fresare in modo efficace diversi tipi di lamine per eliminare gli artefatti della preparazione meccanica e consentire l'analisi SEM ad alta risoluzione dei componenti della batteria.
È sufficiente inserire il campione nel vostro flusso di lavoro
Aumentate l'efficienza e riducete le fasi di manipolazione grazie alla compatibilità del supporto per campioni. Potete utilizzare lo stesso supporto sull'EM TXP e sull'EM TIC 3X per l'intera fase di preparazione delle superfici. Il montaggio e l'orientamento costante del campione durante l'intero processo di preparazione riduce il rischio di danni al campione e di disallineamento.
Possibilità di ampliare la gamma di esperimenti in base alle necessità
Con un nuovo tavolino potrete ampliare la gamma di esperimenti senza bisogno di assistenza e senza tempi di inattività dello strumento, anche per i tavolini crio.
- Tavolino standard
- Tavolino per campioni multipli
- Tavolino rotante
- Tavolino raffreddato
- Stazione di criotrasferimento sottovuoto
EM TIC 3X è compatibile con altri strumenti Leica, tra cui EM VCT500 e EM ACE600.
