EM TXP Dispositivo di sezionamento trasversale
EM TXP è un dispositivo meccanico di sezionamento trasversale che consente di ridurre con precisione le dimensioni dei campioni per l'ispezione visiva. Con EM TXP è possibile ottimizzare la preparazione preliminare dei campioni minimizzando i tempi di fresatura a fascio ionico e garantendo l'ottenimento di superfici piatte e lucide, ideali per l'ispezione al microscopio ottico.
Strutture interne preparate per la fresatura a fascio ionico ampio
Grazie alle funzionalità multi-utensile è possibile avere sempre a disposizione l'accessorio perfetto per ogni fase del processo, così da lavorare con precisione sull'area di interesse e regolare in maniera accurata l'angolo di inclinazione e la rotazione dell'utensile. Il pre-taglio preciso consente di rivelare le strutture interne del campione e riduce il tempo di fresatura a fascio ionico, rimuovendo il materiale indesiderato.
Morfologia della dentina del Microraptor (c, d). Le frecce nere indicano i processi odontoblastici (contrassegnati con “odp”) mostrati nella sezione trasversale. Immagine adattata da Wang Yan et al., Comparative microstructural study on the teeth of Mesozoic birds and non-avian dinosaurs, R. Soc. Open Sci., 10230147 doi.org/10.1098/rsos.230147; creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Superficie della sezione trasversale lucidata con estrema precisione.
- Preparare le superfici in modo che soddisfino i requisiti di precisione per l'ispezione al microscopio ottico.
- Lucidare accuratamente la superficie della sezione trasversale per l'ispezione visiva.
- Rivelare la struttura del campione in modo che sia perfettamente visibile al microscopio stereoscopico.
Lucidatura del campione con EM TXP Crediti delle immagini: Kurt Fuchs Photo Design. Fotografie scattate dal team del gruppo di ricerca Christiansen nel laboratorio di riferimento Leica Microsystems presso la sede INAM/IKTS di Forchheim, Germania
Il funzionamento è semplicissimo: basta inserire il campione nel flusso di lavoro.
La compatibilità dei supporti per campioni aiuta a migliorare l'efficienza e a ridurre le fasi di lavorazione. È possibile infatti utilizzare gli stessi supporti sia con il sistema EM TXP sia con la fresa EM TIC 3X, durante tutto il flusso di lavoro di preparazione delle superfici.Mantenendo il campione fissato e orientato nello stesso modo durante tutto il processo di preparazione, si riduce inoltre il rischio di danneggiare o spostare il campione.
