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Leica EM TXP Sistema per il trattamento superficiale del target

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Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing

This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.

High-Quality EBSD Sample Preparation

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SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.

Cross Section Ion Beam Milling of Battery Components

Sample Preparation of Lithium battery systems requires high quality surface preparation to evaluate their internal structure and morphology. Due to the brittle materials involved, preparing pristine…

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Microscopi per le industrie automobilistica e dei trasporti

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Microscopi per l'analisi dei materiali

L'analisi dei materiali richiede soluzioni di microscopia per l'imaging, la misurazione e l'analisi delle caratteristiche di una varietà di materiali come leghe metalliche, semiconduttori, vetro e…

Mercati della microscopia industriale

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Analisi in sezione dei componenti elettronici

L'analisi in sezione dei componenti elettronici permette di controllare in modo approfondito i meccanismi che causano i guasti di componenti quali schede a circuito stampato (PCB), gruppi (PCBA) e…

Industria dell'elettronica e dei semiconduttori

Per l'elettronica e i semiconduttori, le soluzioni che consentono un'ispezione veloce sono fondamentali per esempio per l'analisi della sezione trasversale, del grado di pulizia per la ricerca e…
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