Componenti

Microscopio per l'analisi dei materiali DM6 M LIBS comprende:

Quantità

Reflector DF

11888740
1

Reflector BF, fixed

11888716
1

CTR compact XY

11525227
1

LED lamp housing DM6, cable long

11504242
1

Eyepiece HC PLAN s 10x/25 Br. M

11507808
2

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 5x/0,15 BD

11566046
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 10x/0,30 BD

11566503
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 20x/0,45 BD

11566509
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 50x/0,80 BD

11566201
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 100x/0,90 BD

11566203
1

LIBS standard sample

11560204
1

SpectralTools licence

11560205
1

LIBS module, complete

11560200
1

LIBS reflector cube

11561105
1

Microscope Objective 20x/0.40 LIBS NUV

11518149
1

Laser safety set for mot. stage

11560201
1

HP E27k G5 27inches UHD

11533663
1

Silver Workstation

11640714
1

DM6 M basic stand, LED RL, mot. Z

11889191
1

DM6 M Top,6x,M32,mot.,4x (RL,BD), mot.

11889213
1

Cover objective revolving nosepiece

11888105
1

Adapter XY-basic / XY-advanced

11505237
1

Smart Move for DM/DMI Series

11505180
1

Objective protection glass

11518150
1

Basic docu tube BDT, mech., 19 CIP

11505296
1

Tube adapter incl. 1 docu. port

11505161
1

Mot. Stage EK14, 76x50 (LIBS)

11560202
1

Slide holder IND

11561053
1

Spacer ring 32/25

11561097
1

Leica K3C

11547114
1

C-Mount HC 0.55x

11541544
1

LAS X Industry Core

11640620
1

Dongle for LAS X optional modules

11640879
1

LAS X Quantimet Basic SW Package

11640605
1

Keyboard UK; USB Hub

11600221
1

Advanced application training one day

9I_CM_APPLIC1
1

Service Installation

9I_CM_CLASS_H
1

>Specifiche tecniche

  • Include un manager di gestione della luce per risparmiare tempo e semplificare le operazioni. 
  • Per una panoramica molto rapida del campione è possibile adattare l'obiettivo 1,25x. 
  • Il dispositivo di gestione del contrasto integrato regola in modo completamente automatico le impostazioni necessarie per ogni obiettivo e modalità di contrasto, consentendo così un facile utilizzo da parte di ogni utente.
  • Monitor HDMI 4k da 27"
  • Workstation W2 (per l'imaging con microscopi motorizzati xyz)
  • Drive Z a motore
  • Con selettore di ingrandimento
  • Tubo fotografico HC L2TU 4/5/6
  • Torretta portaobiettivi motorizzata
  • Con contrasto DF
  • Automatico (motorizzato + scansione)
  • Tavolino a scansione 100x100 (2 mm)
  • Inserto in metallo 160x116
  • Campione standard LIBS

DM6 M LIBS Soluzione per analisi della composizione delle microstrutture

La possibilità di unire all'ispezione visiva quella chimica qualitativa in un'unica operazione vi permetterà di risparmiate fino al 90% del tempo per determinare la composizione delle microstrutture rispetto a un'ispezione SEM/EDS convenzionale. L'integrazione della spettroscopia laser permette di ottenere l'impronta chimica esatta della struttura del materiale visualizzata al microscopio nell'arco di un secondo.

Legga i nostri ultimi articoli

Metallografia

L'analisi microstrutturale di metalli, leghe e altri materiali può essere ottimizzata mediante l'utilizzo un microscopio metallografico Leica.

Microscopi per le industrie automobilistica e dei trasporti

L’ obiettivo di Leica è essere il vostro affidabile collaboratore che vi guida verso le soluzioni di imaging migliori per le vostre esigenze, per consentirvi di essere sempre un passo avanti alla…

Pulizia tecnica

For industrial and electronics manufacturers as well as non-regulated pharma applications, solutions for an efficient technical cleanliness offer significant advantages.

Mercati della microscopia industriale

Negli ambienti industriali la tendenza attuale è di migliorare i tempi e raggiungere gli obiettivi in modo veloce per aumentare i profitti. Le soluzioni dedicate alle analisi microscopiche Leica, sono…

Industria metallurgica

Le soluzioni per la microscopia ottica di Leica per l'industria metallurgica sono utilizzate per valutare la qualità dei materiali e garantire la conformità agli standard internazionali.

Analisi in sezione dei componenti elettronici

L'analisi in sezione dei componenti elettronici permette di controllare in modo approfondito i meccanismi che causano i guasti di componenti quali schede a circuito stampato (PCB), gruppi (PCBA) e…

Industria dell'elettronica e dei semiconduttori

Per l'elettronica e i semiconduttori, le soluzioni che consentono un'ispezione veloce sono fondamentali per esempio per l'analisi della sezione trasversale, del grado di pulizia per la ricerca e…

Produzione di batterie

La produzione di batterie presenta diverse sfide chiave per quanto riguarda l'ispezione. Sono necessarie soluzioni per la preparazione dei campioni e per l'analisi visiva e chimica…

Misurazioni al microscopio

I microscopi per misurazioni sono utili per determinare le dimensioni dei campioni durante il controllo qualità, l'analisi dei guasti e la ricerca e sviluppo. Ulteriori informazioni sui microscopi per…

Scienza e analisi dei materiali

I microscopi svolgono un ruolo fondamentale nell'analisi e nella scienza dei materiali Vengono utilizzati per analizzare leghe metalliche, ceramiche e polimeri per la ricerca e il controllo di…
Scroll to top