Visoria M 金属顕微鏡

効率性と快適性でルーチンをパワーアップ

電子機器や半導体にとって、PCB、ウェハー、ICチップ、バッテリーの効率的な検査、断面解析、清浄度分析、研究開発を可能にするソリューションは極めて重要です。

ライカのインテリジェントなイメージングソリューションは、現在および将来のニーズに対応し、お客様は技術革新に集中することができます。

バッテリー製造には、検査に関するいくつかの主な課題があります。サンプル前処理と顕微鏡による外観検査および拡張分析用のソリューションが必要です。

ライカの金属組織観察・分析ソリューションは、正確さと手軽さ、そしてスピード向上に寄与します

顕微鏡とサンプル調製ソリューションで、ウエハー加工、ICパッケージング、組み立ておよび試験のため、迅速で信頼性の高いウエハーおよび半導体検査を実現します。

電子・エレクトロニクス業界では、断面解析により、プリント基板（PCB）、アセンブリ（PCBA）、集積回路（IC）などのコンポーネントの故障メカニズムを詳細に解析します。

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