EM TXP Dispositif de coupe transversale
EM TXP Dispositif de coupe transversale
EM TXP
Préparation d’échantillons pour MET/MEB
Produits
Accueil
Leica Microsystems
EM TXP Dispositif de coupe transversale
Votre point de départ pour l'inspection des coupes transversales en microscopie électronique et en microscopie optique
Vous souhaitez en savoir plus ?
Parlez à nos experts.
Préférez-vous un conseil personnalisé ? Show local contacts
Êtes-vous sûr(e) de vouloir fermer le formulaire ?
no yes