マテリアルサイエンス& 分析

偏光と微分干渉コントラスト（DIC）を備えた顕微鏡を使用することで、標準的な明視野照明では見えないマイクロクラックや介在物のような材料内部の構造を可視化することができます。偏光は異方性物質を強調し、DICは染色することなく透明な試料のコントラストを強調します。DM4 PとDM6 Mの顕微鏡は偏光とDICが可能です。

硬質材料の精密な切断、研削、研磨により、ミクロンレベルの精度で特定のサンプル領域をターゲットにすることができます。EM TXPターゲット断面試料作製システムを使用すれば可能です。

EM TIC 3Xは、トリプルイオンビームミリングを採用し、硬質、軟質、脆性、不均質、感熱性など、さまざまなタイプの試料を高品質で表面加工します。

マテリアルサイエンス用顕微鏡は、品質管理（QC）、研究開発（R&D）、清浄度・コンタミ解析、故障解析（FA）など、さまざまな用途に使用されます。自動車、航空宇宙、合金、半導体、電子機器、医療機器、地球科学、科学捜査、化学工学、薬学など、さまざまな産業や分野で重要な役割を担っています。

2つの手法を1台に統合したソリューションで、光学顕微鏡として使用できるだけでなく、レーザー誘起ブレークダウン分光法（LIBS）による分析も可能です。試料を画像化し、相や介在物のような微細構造を含む化学組成を分析することができます。このソリューションは効率的な材料分析を実現するのに役立ちます。