DM6 M LIBS
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DM6 M LIBS 微細構造の化学分析のためのソリューション
拡大観察と化学分析を 1 台で
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Battery Particle Detection During the Production Process
How battery particle detection and analysis is enhanced with optical microscopy and laser spectroscopy for rapid, reliable, and cost-effective QC during battery production is explained in this…
Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
Factors to Consider for a Cleanliness Analysis Solution
Choosing the right cleanliness analysis solution is important for optimal quality control. This article discusses the important factors that should be taken into account to find the solution that best…
Efficient Particle Counting and Analysis
This report discusses particle counting and analysis using optical microscopy for cleanliness of parts and components. Particle counting and analysis is a critical part of quality assurance in the…
Quality Control Under the Microscope
Fast-rising demand for electric vehicles is one of the market’s main drivers, but there are other hotspots of growth, including the rise in renewable energy installations, such as photovoltaic panels,…
Cleanliness of Automotive Components and Parts
This article discusses the ISO 16232 standard and VDA 19 guidelines and briefly summarizes the particle analysis methods. They give important criteria for the cleanliness of automotive parts and…
Keeping Particulate Contamination Under Control in Pharmaceutical Products
This article describes how a 2-methods-in-1 solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) can be utilized for identification of particulate contaminants in the…
Depth Profiling and Layer Analysis for Inspection of Materials with a 2-In-1 Solution Combining Optical Microscopy and Laser Spectroscopy
In addition to simultaneous visual and chemical inspection, a 2-methods-in-1 materials analysis solution, which combines optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), can also be…
Visual and Chemical Analysis of Steel Microstructure: Faster Rating of Steel Quality
Simultaneous visual and chemical analysis of steel non-metallic inclusions with a 2-methods-in-1 solution, using optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS), is described in…
See the Structure with Microscopy - Know the Composition with Laser Spectroscopy
The advantages of a 2-in-1 materials analysis solution combining optical microscopy and laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) for simultaneous visual and chemical inspection are described in…
バッテリー製造
バッテリー製造には、検査に関するいくつかの主な課題があります。サンプル前処理と顕微鏡による外観検査および拡張分析用のソリューションが必要です。
応用分野
金属組織学
ライカの金属顕微鏡は、金属、合金、その他の材料の微細構造解析のために最適化されています。
自動車＆輸送機器業界
ライカのインテリジェントなイメージングソリューションは、現在および将来のニーズに対応し、お客様は技術革新に集中することができます。
材料と地球科学
信頼性が高く、高品質なイメージングと解析を行なうためには、適切なツールが必要です。顕微鏡のライカは、 幅広い光学機器、イメージングシステム、ソフトウェア、人間工学に基づいたアクセサリで、お客様のニーズに合った最適なソリューションを提供致します。
清浄度評価
製品の機能と耐用期間は、粒子のコンタミネーションと関係し、粒子のコンタミネーションを定量的に検出することは、製造工程の改善につながります。
工業用光学顕微鏡
材料解析には、金属合金、半導体、ガラス、セラミック、プラスチック、ポリマーなど、さまざまな材料の画像処理、測定、分析のための顕微鏡ソリューションが必要です。
インダストリーマーケット別
稼働時間を最大化し、生産性向上により、お客様の収益に貢献します。ライカの顕微鏡（マイクロスコープ）ソリューションは、微細な異物や残渣なども見逃しなく、迅速かつ信頼性の高い分析、文書化、結果報告を実現します。ライカマイクロシステムズは、幅広いソリューションとエキスパートによるサポートを提供し、さまざまなアプリケーションのニーズにお応えします。
鉄鋼・金属
ライカの金属組織観察・分析ソリューションは、正確さと手軽さ、そしてスピード向上に寄与します
エレクトロニクスのための断面解析
電子・エレクトロニクス業界では、断面解析により、プリント基板（PCB）、アセンブリ（PCBA）、集積回路（IC）などのコンポーネントの故障メカニズムを詳細に解析します。
エレクトロニクスおよび半導体産業
電子機器や半導体にとって、PCB、ウェハー、ICチップ、バッテリーの効率的な検査、断面解析、清浄度分析、研究開発を可能にするソリューションは極めて重要です。
バッテリー製造
バッテリー製造には、検査に関するいくつかの主な課題があります。サンプル前処理と顕微鏡による外観検査および拡張分析用のソリューションが必要です。
測定可能な顕微鏡
光学顕微鏡は、品質管理、故障解析、研究開発において、試料の形状寸法測定にも役立ちます。ライカの光学顕微鏡の詳細をご覧ください。
