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Leica EM TXP ターゲット断面試料作製装置

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Preparation of an IC-chip cross section: grinding and polishing of the chip cross section.

Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing

This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Image of an integrated-circuit (IC) chip cross section acquired at higher magnification showing a region of interest.

Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections

This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
EBSD grain size distribution of the cross section of a gold wire within a silicon matrix from inside a CPU (central processing unit of a computer). The grains are highlighted with arbitrary colors.

High-Quality EBSD Sample Preparation

This article describes a method for EBSD sample preparation of challenging materials. The high-quality samples required for electron backscatter diffraction are prepared with broad ion-beam milling.
SEM image of the full Li-NMC electrode sample, showing the two porous layers and the metal film at the center of the structure.

Cross Section Ion Beam Milling of Battery Components

Sample Preparation of Lithium battery systems requires high quality surface preparation to evaluate their internal structure and morphology. Due to the brittle materials involved, preparing pristine…

Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science

This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
Microscopy Solutions for Battery Manufacturing

Battery Manufacturing

Battery manufacturing has several key challenges concerning inspection. Solutions for sample preparation and microscopic visual and chemical analysis are needed.

応用分野

時計産業

時計メーカーと時計産業にとって、ライカの高精度実体顕微鏡は、強力な味方。時計の精密アセンブリーを容易に行い、品質とクラフトマンシップを高い信頼性で検査するのをサポートします。

自動車&輸送機器業界

ライカのインテリジェントなイメージングソリューションは、現在および将来のニーズに対応し、お客様は技術革新に集中することができます。

工業用光学顕微鏡

材料解析には、金属合金、半導体、ガラス、セラミック、プラスチック、ポリマーなど、さまざまな材料の画像処理、測定、分析のための顕微鏡ソリューションが必要です。

工業用顕微鏡のマーケット

稼働時間を最大化し、生産性向上により、お客様の収益に貢献します。ライカの顕微鏡(マイクロスコープ)ソリューションは、微細な異物や残渣なども見逃しなく、迅速かつ信頼性の高い分析、文書化、結果報告を実現します。ライカマイクロシステムズは、幅広いソリューションとエキスパートによるサポートを提供し、さまざまなアプリケーションのニーズにお応えします。

エレクトロニクスのための断面解析

電子・エレクトロニクス業界では、断面解析により、プリント基板(PCB)、アセンブリ(PCBA)、集積回路(IC)などのコンポーネントの故障メカニズムを詳細に解析します。

エレクトロニクスおよび半導体産業

電子機器や半導体にとって、PCB、ウェハー、ICチップ、バッテリーの効率的な検査、断面解析、清浄度分析、研究開発を可能にするソリューションは極めて重要です。
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