EM TIC 3X
イオンビームミリング
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EM TIC 3X Ion Beam Milling System
加工効率と柔軟性
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Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
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Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
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High-Quality EBSD Sample Preparation
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Cross Section Ion Beam Milling of Battery Components
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Download EM Workflow Solutions Booklet
This publication is a compilation of appropriate workflows for the most frequently used sample preparation methods, like Correlative Methodologies, Optogenetics & Electro-Physiology, Surface Analysis,…
Application Booklet for EM TIC 3X
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Workflows and Instrumentation for Cryo-electron Microscopy
Cryo-electron microscopy is an increasingly popular modality to study the structures of macromolecular complexes and has enabled numerous new insights in cell biology. In recent years, cryo-electron…
Introduction to Ion Beam Etching with the EM TIC 3X
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Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science
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Studying the Microstructure of Natural Polymers in Fine Detail
The potential of cryogenic broad ion beam milling used in combination with scanning electron microscopy (cryo-BIB-SEM) for imaging and analyzing the microstructure of cryogenically stabilized soft…
Macroscale to Nanoscale Pore Analysis of Shale and Carbonate Rocks
Physical porosity in rocks, like shale and carbonate, has a large effect on the their storage capacity. The pore geometries also affect their permeability. Imaging the visible pore space provides…
Practical Applications of Broad Ion Beam Milling
Mechanical polishing can be time consuming and frustrating. It can also introduce unwanted artifacts when preparing cross-sectioned samples for electron backscatter diffraction (EBSD) in the scanning…
バッテリー製造
バッテリー製造には、検査に関するいくつかの主な課題があります。サンプル前処理と顕微鏡による外観検査および拡張分析用のソリューションが必要です。
応用分野
自動車＆輸送機器業界
ライカのインテリジェントなイメージングソリューションは、現在および将来のニーズに対応し、お客様は技術革新に集中することができます。
工業用光学顕微鏡
材料解析には、金属合金、半導体、ガラス、セラミック、プラスチック、ポリマーなど、さまざまな材料の画像処理、測定、分析のための顕微鏡ソリューションが必要です。
工業用顕微鏡のマーケット
稼働時間を最大化し、生産性向上により、お客様の収益に貢献します。ライカの顕微鏡（マイクロスコープ）ソリューションは、微細な異物や残渣なども見逃しなく、迅速かつ信頼性の高い分析、文書化、結果報告を実現します。ライカマイクロシステムズは、幅広いソリューションとエキスパートによるサポートを提供し、さまざまなアプリケーションのニーズにお応えします。
エレクトロニクスのための断面解析
電子・エレクトロニクス業界では、断面解析により、プリント基板（PCB）、アセンブリ（PCBA）、集積回路（IC）などのコンポーネントの故障メカニズムを詳細に解析します。
エレクトロニクスおよび半導体産業
電子機器や半導体にとって、PCB、ウェハー、ICチップ、バッテリーの効率的な検査、断面解析、清浄度分析、研究開発を可能にするソリューションは極めて重要です。
バッテリー製造
バッテリー製造には、検査に関するいくつかの主な課題があります。サンプル前処理と顕微鏡による外観検査および拡張分析用のソリューションが必要です。
