Medical Device Quality Assurance and Quality Control

Assicurazione e controllo della qualità nei dispositivi medicali

Acquisizione e analisi affidabili delle immagini per la documentazione relativa a controlli di qualità (RA) e QA / QC: Con le soluzioni dedicate alla microscopia di Leica Microsystems, potete fare affidamento sui risultati ottenuti dall'ispezione visiva e della documentazione per i dispositivi medicali.

Leica Microsystems offre soluzioni complete per l'ispezione visiva, in grado di assicurare dati delle immagini affidabili. Identifica, analizza, convalida e documenta i difetti in modo efficiente, come mezzo per garantire la conformità alle normative in materia di dispositivi medicali. In particolare, i maggiori benefici si ottengono per i dispositivi medicali di classe II e III con rischio più elevato, quali stent, impianti dentali, cateteri e molti altri dispositivi impiantabili.

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Quality Assurance Improvement Across Industries

Precision is paramount. Imagine a pacemaker that fails mid-operation or a semiconductor flaw that causes a critical system crash. In industries, such as medical devices, electronics, and…

Radially grown sugar crystals which have been imaged with a Leica microscope using circular polarized light.

Polarizing Microscope Image Gallery

How polarization microscope images can be used for analysis is shown in this gallery. Polarized light microscopy (also known as polarizing microscopy) is an important method for different fields and…

Some 2D measurements, e.g., lengths and areas, made on a PCB sample with a Leica measurement microscope using the Enersight software.

How to Select the Right Measurement Microscope

With a measurement microscope, users can measure the size and dimensions of sample features in both 2D and 3D, something crucial for inspection, QC, failure analysis, and R&D. However, choosing the…

Example of calibrating a microscope at a higher magnification value using a stage micrometer.

Microscope Calibration for Measurements: Why and How You Should Do It

Microscope calibration ensures accurate and consistent measurements for inspection, quality control (QC), failure analysis, and research and development (R&D). Calibration steps are described in this…

Documentation of an automotive clutch friction surface with a digital microscope

Automotive Part Verification and Development according to Specifications

Automotive part verification during the development and production of parts and components by suppliers or manufacturers is important for ensuring that specifications are met. Specifications are…

Area of a printed circuit board (PCB) which was imaged with extended depth of field (EDOF) using digital microscopy.

Depth of Field in Microscope Images

For microscopy imaging, depth of field is an important parameter when needing sharp images of sample areas with structures having significant changes in depth. In practice, depth of field is…

Leitz Laborlux: Tartaric acids, polarization contrast

The Polarization Microscopy Principle

Polarization microscopy is routinely used in the material and earth sciences to identify materials and minerals on the basis of their characteristic refractive properties and colors. In biology,…

Image of magnetic steel taken with a 100x objective using Kerr microscopy. The magnetic domains in the grains appear in the image with lighter and darker patterns. A few domains are marked with red arrows. Courtesy of Florian Lang-Melzian, Robert Bosch GmbH, Germany.

Rapidly Visualizing Magnetic Domains in Steel with Kerr Microscopy

The rotation of polarized light after interaction with magnetic domains in a material, known as the Kerr effect, enables the investigation of magnetized samples with Kerr microscopy. It allows rapid…

Region of a patterned wafer inspected using optical microscopy and automated and reproducible DIC (differential interference contrast). With DIC users are able to visualize small height differences on the wafer surface more easily.

6-Inch Wafer Inspection Microscope for Reliably Observing Small Height Differences

A 6-inch wafer inspection microscope with automated and reproducible DIC (differential interference contrast) imaging, no matter the skill level of users, is described in this article. Manufacturing…

Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface. The inset images in the upper left corner show the brightfield image (above) and fluorescence image (below with dark background).

Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers

As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…

Misurazione

I microscopi per misurazioni sono utili per determinare le dimensioni dei campioni durante il controllo qualità, l'analisi dei guasti e la ricerca e sviluppo. Ulteriori informazioni sui microscopi per misurazioni Leica.

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Microscopi per l'ispezione

I microscopi d'ispezione Leica soddisfano le tue esigenze, sia che si tratti di avere una visione d'insieme di un componente o di un campione, sia che si tratti di visualizzare minimi dettagli.

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Ispezione durante l'assemblaggio e la rilavorazione

Le soluzioni ergonomiche per microscopi di Leica Microsystems, garantiscono precisione e velocità, per massimizzare la produttività e fornire risultati di alta qualità in modo ergonomico. Grazie all'eccellente qualità ottica e all'ampio campo visivo, questi sistemi garantiscono il comfort dell'operatore durante il lavoro e ottimizzano i flussi di lavoro di assemblaggio e rilavorazione.

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Applicazioni industriali

Grazie a una vasta gamma di soluzioni e un servizio assistenza fornito da esperti locali, con i microscopi Leica Microsystems per l'industria e la produzione è possibile ridurre al minimo l'inattività.

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