DM3 XL
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Leica Microsystems
DM3 XL Das Inspektionssystem für die Mikroelektronik- und Halbleiterbranche
Schnelle Erkennung - schnelle Reaktion
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Bei der Inspektion, Prozesskontrolle oder Analyse von Defekten und Fehlern in der Mikroelektronik- bzw. Halbleiterbranche kommt es auf Schnelligkeit an. Je schneller ein Defekt erkannt wird, desto schneller kann darauf reagiert werden.
30 % größeres Sichtfeld
Mit dem einzigartigen Makroobjektiv des DM3 XL profitieren Sie von einem 30% größeren Sichtfeld. Das ermöglicht Ihnen eine schnellere Erkennung von Defekten und steigert Ihren Durchsatz.
