DM3 XL Aufrechte Mikroskope Lichtmikroskope Produkte Startseite Leica Microsystems

Schnelle Erkennung - schnelle Reaktion

Das Inspektionssystem für die Mikroelektronik- und Halbleiterbranche DM3 XL

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Bei der Inspektion, Prozesskontrolle oder Analyse von Defekten und Fehlern in der Mikroelektronik- bzw. Halbleiterbranche kommt es auf Schnelligkeit an. Je schneller ein Defekt erkannt wird, desto schneller kann darauf reagiert werden.

30 % größeres Sichtfeld

Mit dem einzigartigen Makroobjektiv des DM3 XL profitieren Sie von einem 30% größeren Sichtfeld. Das ermöglicht Ihnen eine schnellere Erkennung von Defekten und steigert Ihren Durchsatz.