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Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie

Herausragende Ergebnisse, beeindruckende Leistungen oder bahnbrechende Entdeckungen haben eines gemeinsam: Sie erfordern präzise und sorgfältige Vorbereitung. Insbesondere bei der Elektronenmikroskopie ist perfekte Probenvorbereitung eine wesentliche Voraussetzung.

Gute Vorbereitung ist alles!

Leica Microsystems bietet ein umfassendes Produktprogramm für die Vorbereitung biologischer, medizinischer und industrieller Proben an. Unsere Lösungen für den kompletten Arbeitsablauf der Probenvorbereitung sind perfekt auf Ihre Anforderungen im Bereich der TEM-, SEM- und AFM-Untersuchungen abgestimmt. Alle Leica Geräte sind so kombinierbar, dass sie zusammen einen nahtlosen Arbeitsablauf für Ihre Probenvorbereitung ergeben.Perfekte Vorbereitung entscheidet über Erfolg oder Misserfolg und macht aus einfachen Ergebnissen herausragende Ergebnisse. Mit Leica Microsystems sind Sie auf herausragende Ergebnisse vorbereitet!

Produkte für die Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie 18

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Leica EM Cryo CLEM-Set basierend auf Leica DM6 FS

EM Cryo CLEM

Korrelatives Licht- und Elektronenmikroskopie-System

Hochdruckgefrieranlage Leica EM ICE

Leica EM ICE

Hochdruckgefrieranlage mit optionaler Licht- und/oder Elektrostimulation

EM Sample Preparation Freeze Fracture System Leica EM ACE900

Leica EM ACE900

Gefrierbruchsystem für High-End-Kryo-Beschichtung

Leica EM CPD300

Automatisierter Kritisch-Punkt-Trockner

Ultramikrotom Leica EM UC7

Leica EM UC7

Das Ultramikrotom für ausgezeichnete Schnitte unter Raum- und Tieftemperatur

Leica EM FC7, Kryokammer für die Ultramikrotome Leica EM UC7, EM UC6

Leica EM FC7

Kryokammer für die Ultramikrotome Leica EM UC7, EM UC6

Leica EM AFS2 Gefriersubstitutions- und Tieftemperatureinbettungssystem

Leica EM AFS2

Gefriersubstitutions- und Tieftemperatur­einbettungssystem

Leica EM RAPID: Pharmazeutisches Frässystem für Tabletten

Leica EM RAPID

Pharmazeutisches Frässystem für Tabletten<br>

Gewebeeinbettungsautomat Leica EM TP

Leica EM TP

Gewebeeinbettungsautomat

Featured image

Cross Section Surface

Cross Section Surface, Pre Paid Card RuO4stained, sectioned with diamond knife at room temperature, treated with a special plasma etching device, SEM image.

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News

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TÜV SÜD überreicht Leica Microsystems ISO Zertifikat nach erfolgreicher globaler Matrix Zertifizierung

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Webinar: Zelluläre Dynamik auf 1 ms genau untersuchen

Optogenetik in Verbindung mit Hochdruckgefrieren ermöglicht die Analyse schneller Prozesse

Interaktionen zwischen Bakterien und Wirtzellen visualisieren mithilfe der korrelativen Mikroskopie unter Cryo-Bedingungen

Zu verstehen, wie pathogene Organismen mit der Wirtzelle interagieren, kann wichtige Erkenntnisse über den Prozess der Infektion und die Entstehung...

Inspektion von mehrschichtigen Proben - Workflow in der Qualitätskontrolle

Ein neues Konzept für einen effizienten, schnellen und präzisen Workflow in der Qualitätskontrolle

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Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie: Die Zukunft ist kalt, dynamisch und hybride“

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Wie Sie das Zielpräzisionsinstrument Leica EM TXP einsetzen, um kleine, scheibenförmige Kondensatoren für Kapazitätsmessungen zu präparieren

Korrelative Fluoreszenz- und (Cryo-)Elektronenmikroskopie

7. Juli 2015: Registrieren Sie sich für das kostenlose Webinar mit Dr. John Briggs, EMBL, zu CLEM-Techniken für 3D-Bildgebung.

Standort Wien erhält Zertifizierung nach DIN EN ISO 14001

15. Juni 2015

Geschäftsbereich EM-Probenpräparation belegt Bekenntnis zum Umweltschutz

Leica Microsystems launches Leica EM Cryo CLEM, a system that facilitates correlative light and electron microscopy (CLEM), allows rapid screening of large areas and fast determination of regions of interest

Leica Microsystems kombiniert Vorzüge der Kryofixierung, Fluoreszenz-Lichtmikroskopie und Elektronenmikroskopie in einem System

Leica EM Cryo CLEM bietet das weltweit erste Kryo-CLEM-Objektiv

The Leica EM TIC 3X ion beam milling system is now available with vacuum cryo transfer docking port for convenient transfer of room-temperature or cryo samples.

Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X von Leica Microsystems jetzt mit VCT-Andockstation erhältlich

Vakuum-Kryo-Transfer (VCT) gewährleistet Phasenerhalt der Proben während der EM-Präparation

Fünftägiger Workshop für EM Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe in Wien, Österreich

November 17 - 21, 2014

Praktische Anwendungen und Vorträge über die Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe unter Raum- und Kryobedingungen

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Um die besten Untersuchungsergebnisse in der Elekronenmikroskopie (EM) zu erhalten, ist eine perfekte EM Probenvorbereitung (für TEM, SEM, AFM)...

Erneuter Firmenerwerb durch Leica Microsystems

Umfassendstes Produktportfolio zur Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie.

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