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Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie

Herausragende Ergebnisse, beeindruckende Leistungen oder bahnbrechende Entdeckungen haben eines gemeinsam: Sie erfordern präzise und sorgfältige Vorbereitung. Insbesondere bei der Elektronenmikroskopie ist perfekte Probenvorbereitung eine wesentliche Voraussetzung.

Gute Vorbereitung ist alles!

Leica Microsystems bietet ein umfassendes Produktprogramm für die Vorbereitung biologischer, medizinischer und industrieller Proben an. Unsere Lösungen für den kompletten Arbeitsablauf der Probenvorbereitung sind perfekt auf Ihre Anforderungen im Bereich der TEM-, SEM- und AFM-Untersuchungen abgestimmt. Alle Leica Geräte sind so kombinierbar, dass sie zusammen einen nahtlosen Arbeitsablauf für Ihre Probenvorbereitung ergeben.Perfekte Vorbereitung entscheidet über Erfolg oder Misserfolg und macht aus einfachen Ergebnissen herausragende Ergebnisse. Mit Leica Microsystems sind Sie auf herausragende Ergebnisse vorbereitet!

Produkte für die Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie 20

Filter by Area of Application
ARTOS 3D

ARTOS 3D

Ultramikrotom für Array-Tomographie

Leica EM Cryo CLEM

Leica EM Cryo CLEM

Korrelieren von kryofixierten biologischen Proben im Licht- und Elektronenmikroskop

Leica EM ICE

Leica EM ICE

Hochdruckgefrieranlage mit optionaler Licht- und/oder Elektrostimulation

Leica EM VCT500

Leica EM VCT500

Vakuum-Kryo-Transfersystem

Leica EM TIC 3X

Leica EM TIC 3X

Ionenstrahlätzsystem

Leica EM ACE200

Leica EM ACE200

Feinvakuum-Coater

Leica EM ACE600

Leica EM ACE600

Hochvakuum-Coater

Leica EM ACE900

Leica EM ACE900

Gefrierbruchsystem für High-End-Kryo-Beschichtung

Leica EM CPD300

Leica EM CPD300

Automatisierter Kritisch-Punkt-Trockner

Leica EM UC7

Leica EM UC7

Das Ultramikrotom für ausgezeichnete Schnitte unter Raum- und Tieftemperatur

Leica EM KMR3

Leica EM KMR3

Glasmesserbrecher

Leica EM FC7

Leica EM FC7

Kryokammer für die Ultramikrotome Leica EM UC7, EM UC6

Leica EM AFS2

Leica EM AFS2

Gefriersubstitutions- und Tieftemperatur­einbettungssystem

Leica EM RAPID

Leica EM RAPID

Pharmazeutisches Frässystem für Tabletten

Leica EM TRIM2

Leica EM TRIM2

Proben-Trimmer für TEM, REM und LM

Leica EM TP

Leica EM TP

Gewebeeinbettungsautomat

Leica EM AC20

Leica EM AC20

Automatisches Kontrastierungsinstrument für ultradünne Schnitte

Leica EM RES102

Leica EM RES102

Ionenstrahl-Ätzsystem

Leica EM TXP

Leica EM TXP

Zielpräzisionsinstrument zur Probenvorbereitung

Featured image

 

Cross Section Surface

Cross Section Surface, Pre Paid Card RuO4stained, sectioned with diamond knife at room temperature, treated with a special plasma etching device, SEM image.

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News

News & Artikel für die Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie

08. August 2018 TÜV SÜD überreicht Leica Microsystems ISO Zertifikat nach erfolgreicher globaler Matrix Zertifizierung

Leica Microsystems wurde vom TÜV SÜD für sein Qualitäts- und Umweltmanagementsystem nach DIN EN ISO 9001:2015 und DIN EN ISO 14001:2015 sowie im...

03. August 2018 Die weltweit schnellste Lösung für hochwertige 3D-Tomographie

Das ARTOS 3D-Ultramikrotom erweitert den Bereich für die 3D-Bildrekonstruktion für die zellbiologische Forschung

27. April 2018 Thermo Fisher und Leica entwickeln gemeinsam integrierte Kryo-Tomographie-Workflow-Lösung

Korrelation von Licht- und Elektronenmikroskopie führt zu einem besseren Einblick in Makromoleküle im biologischen Kontext

12. März 2018 KAUST und Leica Microsystems weihen Center of Excellence (CoE) ein

Die Einrichtung auf dem neuesten Stand der Technik verfügt über das erste Bildgebungssystem seiner Art in Saudi-Arabien

15. November 2017 Entwicklung neuer, integrierter Cryo-Imaging-Lösungen

CSSB und Leica Microsystems kooperieren bei der Einrichtung eines Zentrums für innovative Licht- und Fluoreszenzmikroskopie (ALFM) mit integrierten...

13. Oktober 2017 Chemie-Nobelpreis 2017 zeichnet „coole“ Revolution in der Biochemie aus

Kryo-EM ermöglicht unter kryogenen Bedingungen präparierte Biomoleküle mit atomarer Auflösung zu studieren

Coatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic

01. März 2017 Inspektion mehrlagiger Beschichtungen in der Automobilindustrie

Interview mit F. Javier Ruiz Balbas, Laborleiter bei Atotech Spanien, über seine Erfahrungen mit dem System Leica EM TXP/DM2700 M

24. Februar 2017 Webinar: Zelluläre Dynamik auf 1 ms genau untersuchen

Optogenetik in Verbindung mit Hochdruckgefrieren ermöglicht die Analyse schneller Prozesse

26. April 2016 Interaktionen zwischen Bakterien und Wirtzellen visualisieren mithilfe der korrelativen Mikroskopie unter Cryo-Bedingungen

Zu verstehen, wie pathogene Organismen mit der Wirtzelle interagieren, kann wichtige Erkenntnisse über den Prozess der Infektion und die Entstehung...

13. April 2016 Inspektion von mehrschichtigen Proben - Workflow in der Qualitätskontrolle

Ein neues Konzept für einen effizienten, schnellen und präzisen Workflow in der Qualitätskontrolle

Die Qualitätskontrolle von mehrlagigen...

05. November 2015 Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie: Die Zukunft ist kalt, dynamisch und hybride“

Interview mit Stefan van Tendeloo und Frédéric Leroux von EMEAT (Electron Microscopy for Materials Science), Universität in Antwerp (Artikel in...

17. September 2015 Präzises Polieren für verlässliche Messungen

Wie Sie das Zielpräzisionsinstrument Leica EM TXP einsetzen, um kleine, scheibenförmige Kondensatoren für Kapazitätsmessungen zu präparieren

30. Juni 2015 Korrelative Fluoreszenz- und (Cryo-)Elektronenmikroskopie

7. Juli 2015: Registrieren Sie sich für das kostenlose Webinar mit Dr. John Briggs, EMBL, zu CLEM-Techniken für 3D-Bildgebung.

15. Juni 2015 Standort Wien erhält Zertifizierung nach DIN EN ISO 14001

15. Juni 2015

Geschäftsbereich EM-Probenpräparation belegt Bekenntnis zum Umweltschutz

19. März 2015 Leica Microsystems kombiniert Vorzüge der Kryofixierung, Fluoreszenz-Lichtmikroskopie und Elektronenmikroskopie in einem System

Leica EM Cryo CLEM bietet das weltweit erste Kryo-CLEM-Objektiv

20. November 2014 Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X von Leica Microsystems jetzt mit VCT-Andockstation erhältlich

Vakuum-Kryo-Transfer (VCT) gewährleistet Phasenerhalt der Proben während der EM-Präparation

26. September 2014 Fünftägiger Workshop für EM Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe in Wien, Österreich

November 17 - 21, 2014

Praktische Anwendungen und Vorträge über die Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe unter Raum- und Kryobedingungen

19. Dezember 2012 Neues Science Lab Topic: EM Sample Preparation

Um die besten Untersuchungsergebnisse in der Elekronenmikroskopie (EM) zu erhalten, ist eine perfekte EM Probenvorbereitung (für TEM, SEM, AFM)...

21. Februar 2008 Erneuter Firmenerwerb durch Leica Microsystems

Umfassendstes Produktportfolio zur Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie.