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Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie

Herausragende Ergebnisse, beeindruckende Leistungen oder bahnbrechende Entdeckungen haben eines gemeinsam: Sie erfordern präzise und sorgfältige Vorbereitung. Insbesondere bei der Elektronenmikroskopie ist perfekte Probenvorbereitung eine wesentliche Voraussetzung.

Gute Vorbereitung ist alles!

Leica Microsystems bietet ein umfassendes Produktprogramm für die Vorbereitung biologischer, medizinischer und industrieller Proben an. Unsere Lösungen für den kompletten Arbeitsablauf der Probenvorbereitung sind perfekt auf Ihre Anforderungen im Bereich der TEM-, SEM- und AFM-Untersuchungen abgestimmt. Alle Leica Geräte sind so kombinierbar, dass sie zusammen einen nahtlosen Arbeitsablauf für Ihre Probenvorbereitung ergeben.Perfekte Vorbereitung entscheidet über Erfolg oder Misserfolg und macht aus einfachen Ergebnissen herausragende Ergebnisse. Mit Leica Microsystems sind Sie auf herausragende Ergebnisse vorbereitet!

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Cross Section Surface

Cross Section Surface, Pre Paid Card RuO4stained, sectioned with diamond knife at room temperature, treated with a special plasma etching device, SEM image.

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News

News & Artikel für die Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie

15. November 2017 Entwicklung neuer, integrierter Cryo-Imaging-Lösungen

CSSB und Leica Microsystems kooperieren bei der Einrichtung eines Zentrums für innovative Licht- und Fluoreszenzmikroskopie (ALFM) mit integrierten Cryo-Imaging-Lösungen

13. Oktober 2017 Chemie-Nobelpreis 2017 zeichnet „coole“ Revolution in der Biochemie aus

Kryo-EM ermöglicht unter kryogenen Bedingungen präparierte Biomoleküle mit atomarer Auflösung zu studieren

Coatings of semi-bright nickel and bright nickel over a copper layer on ABS plastic

01. März 2017 Inspektion mehrlagiger Beschichtungen in der Automobilindustrie

Interview mit F. Javier Ruiz Balbas, Laborleiter bei Atotech Spanien, über seine Erfahrungen mit dem System Leica EM TXP/DM2700 M

24. Februar 2017 Webinar: Zelluläre Dynamik auf 1 ms genau untersuchen

Optogenetik in Verbindung mit Hochdruckgefrieren ermöglicht die Analyse schneller Prozesse

26. April 2016 Interaktionen zwischen Bakterien und Wirtzellen visualisieren mithilfe der korrelativen Mikroskopie unter Cryo-Bedingungen

Zu verstehen, wie pathogene Organismen mit der Wirtzelle interagieren, kann wichtige Erkenntnisse über den Prozess der Infektion und die Entstehung der Erkrankung liefern.

13. April 2016 Inspektion von mehrschichtigen Proben - Workflow in der Qualitätskontrolle

Ein neues Konzept für einen effizienten, schnellen und präzisen Workflow in der Qualitätskontrolle

Die Qualitätskontrolle von mehrlagigen Beschichtungen auf Metall- oder Kunststoffbauteilen – Routine in der Automobil- und Mikroelektronikindustrie –...

05. November 2015 Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie: Die Zukunft ist kalt, dynamisch und hybride“

Interview mit Stefan van Tendeloo und Frédéric Leroux von EMEAT (Electron Microscopy for Materials Science), Universität in Antwerp (Artikel in englisch)

17. September 2015 Präzises Polieren für verlässliche Messungen

Wie Sie das Zielpräzisionsinstrument Leica EM TXP einsetzen, um kleine, scheibenförmige Kondensatoren für Kapazitätsmessungen zu präparieren

30. Juni 2015 Korrelative Fluoreszenz- und (Cryo-)Elektronenmikroskopie

7. Juli 2015: Registrieren Sie sich für das kostenlose Webinar mit Dr. John Briggs, EMBL, zu CLEM-Techniken für 3D-Bildgebung.

15. Juni 2015 Standort Wien erhält Zertifizierung nach DIN EN ISO 14001

15. Juni 2015

Geschäftsbereich EM-Probenpräparation belegt Bekenntnis zum Umweltschutz

19. März 2015 Leica Microsystems kombiniert Vorzüge der Kryofixierung, Fluoreszenz-Lichtmikroskopie und Elektronenmikroskopie in einem System

Leica EM Cryo CLEM bietet das weltweit erste Kryo-CLEM-Objektiv

20. November 2014 Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X von Leica Microsystems jetzt mit VCT-Andockstation erhältlich

Vakuum-Kryo-Transfer (VCT) gewährleistet Phasenerhalt der Proben während der EM-Präparation

26. September 2014 Fünftägiger Workshop für EM Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe in Wien, Österreich

November 17 - 21, 2014

Praktische Anwendungen und Vorträge über die Probenvorbereitung für industrielle Werkstoffe unter Raum- und Kryobedingungen

19. Dezember 2012 Neues Science Lab Topic: EM Sample Preparation

Um die besten Untersuchungsergebnisse in der Elekronenmikroskopie (EM) zu erhalten, ist eine perfekte EM Probenvorbereitung (für TEM, SEM, AFM) unverzichtbar. Erfahren Sie mehr (auf Englisch).

21. Februar 2008 Erneuter Firmenerwerb durch Leica Microsystems

Umfassendstes Produktportfolio zur Probenvorbereitung für Elektronenmikroskopie.

 

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