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Leica Microsystems
Enersight Mikroskop-Softwareplattform
Energie für Effizienz
Mit Enersight betriebene Geräte
Die folgenden Leica-Geräte werden von der Enersight-Softwareplattform unterstützt, weitere werden in Kürze hinzukommen.
| Produkt | Enersight OSD (On-Screen-Display, kein PC erforderlich) | Enersight Mobil (für Tablets und Mobiltelefone) | Enersight Desktop (für Computer) |
| Digitalmikroskop Emspira 3 | x | x | x |
| Ivesta 3 Greenough Stereomikroskope mit Kamera | x | x | x |
| Flexacam c5/i5 Mikroskopkameras | x | x | x |
| Visoria B / M / P | – | – | x |
| K3C / K3M / K5 Mikroskopkameras | – | – | x |
| Bedienung | |||
| Gemeinsame Schnittstelle zur Verwendung mit mehreren Betriebsmodi | x | x | x |
| Vereinfachte Bedienung mit anpassbarer Benutzeroberfläche | x | x | x |
| Benutzerdefinierbar für jede Benutzergruppe (Nutzermanagement) | x | – | x |
| Automatische Anpassung der Kameraeinstellungen | x | x | x |
| Bildaufnahme | |||
| Fokus-Feedback: Hilfe beim Erreichen des maximalen Fokuslevels | x | – | x |
| Histogramm mit Helligkeitsdaten zur Optimierung der Beleuchtung | x | – | x |
| Dokumentation | |||
| Bild- und Videoaufzeichnung, Galerie | x | x | x |
| Speichern von Bildern in einem Netzwerk | x (automatisch speichern) | x (manuelles Speichern) | x (automatisch speichern) |
| Ergebnisse per E-Mail teilen | x | x (manuell) | x (manuell) |
| Bilder kommentieren | x | x | x |
| Fortlaufende Nummerierung der Probendetails | x | x | x |
| Beste Bildfunktion | – | – | x |
| Korrektur der Schattierung | – | – | x |
| Online-Hilfe | – | – | x |
| Erstellung von Berichten & Speichern | – | – | x |
| Messung und Analyse | |||
| Messung unmittelbar während der Inspektion | x | x | x |
| Direkter Vergleich mit Referenzbildern oder Overlays mit Toleranzen | x | – | x |
| Snap-to-Edge-Hilfe für kreisförmige Messungen (auf dem OSD heißt es "Kantenerkennung") | x | – | x |
| HDR für höhere Kontraste, besser ausbalancierte Live-Bilder | x | – | x |
| Negativ-Invertierung zum Hervorheben schwer erkennbarer Details | x | x | x |
| Parallele Linien, Segmentlinie, Schichtdickenmessungen | – | – | x |
| Skalierbare Retikulare | – | – | x |
| Messung & Kommentierung der aufgenommenen Bilder | – | – | x |
| Strichplatten für die Kornanalyse | – | – | x |
Allgemein | |||
| Allgemeine Einstellungen | x | x | x |
| Lizenzkontrolle | – | – | x |
x = enthalten, o = optional, - = nicht verfügbar
