Nicht alle Produkte oder Dienstleistungen sind in allen Märkten zugelassen oder verfügbar, und die Kennzeichnungen und Anweisungen können von Land zu Land unterschiedlich sein. Bitte wenden Sie sich für weitere Informationen an Ihre lokale Leica Vertretung.
Automobil- und Elektronikzulieferer und -hersteller können durch die Analyse von Partikelmenge, -größe und -zusammensetzung eine bessere Produktleistung und -lebensdauer durch effiziente und zuverlässige technische Sauberkeit gewährleisten. Sauberkeitsanalysesysteme von Leica Microsystems bieten eine optimierte Software und eine einzigartige 2-in-1-Lösung für visuelle und chemische Analysen.
Ihre Vorteile
Steigern Sie den Durchsatz, indem Sie mehr in kürzerer Zeit analysieren.
Erhalten Sie mehr Informationen zum Partikelursprung für eine bessere Risikobewertung und sicherere Entscheidungen.
Erfüllen Sie alle Ihre aktuellen Anforderungen und seien Sie auf sich ändernde Anforderungen vorbereitet.
Stellen Sie sicher, dass Sie Ihre Ergebnisse der Sauberkeitsanalyse effizienter erhalten:
Sparen Sie 30 % Ihrer Zeit* beim Scannen von Filterproben auf Partikelgrößen zwischen 5 und 10 µm.
Scannen Sie Partikel auf Filtern 3x schneller* für Größen über 25 µm.
Identifizieren Sie die reflektierenden Partikel an Ihrer Filterprobe schneller und berechnen Sie dank optimierter Algorithmen den kreisförmigen Durchmesser unregelmäßig geformter Partikel mit verbesserter Geschwindigkeit.
Darüber hinaus vereinfachen Sie Ihren Arbeitsablauf und sparen Zeit durch die kontinuierliche, unbeaufsichtigte Analyse mehrerer Filterproben. Mit der automatischen Partikelanalyse können Sie eine Charge von Filtern analysieren.
*Im Vergleich zu einem herkömmlichen Mikroskop
Mikroskop DM6 M mit K3C-Kamera und Cleanliness Expert Software.
Bei Allinox, einem Unternehmen der Luft- und Raumfahrtindustrie, verfügen wir über das Cleanliness Analysis Advanced System und verwenden es für die Analyse schwieriger Partikel auf kritischen Teilen. Wir verwenden diese Lösung, um Partikel bis zu einer Größe von 5 µm zu analysieren, sie genau in drei Dimensionen zu messen und reflektierende von nicht reflektierenden Partikeln gemäß den Luft- und Raumfahrtnormen, z. B. P4TF21, zu unterscheiden. Seitdem wir über diese Lösung verfügen, konnten wir die Effizienz unserer Sauberkeitsanalyse steigern und die Qualität und Zuverlässigkeit unserer Produkte deutlich verbessern.
Erhalten Sie einen tieferen Einblick in die Partikel
„Killerpartikel“ zuverlässiger identifizieren.
Je härter und größer ein Partikel ist, desto höher ist sein Schadenspotenzial.
Unterscheiden Sie automatisch zwischen metallischen und nichtmetallischen Partikeltypen.
Unterscheiden Sie einfach zwischen Partikeln und Fasern.
Messen Sie die Partikelhöhe mit automatisierten Softwaretools.
Setzen Sie einen (Laser) Fokus auf die Kontaminationsquelle
Führen Sie gleichzeitig visuelle und chemische Analysen mit einer 2-in-1-Lösung durch, bei der die Cleanliness Expert-Software und die laserinduzierte Plasmaspektroskopie (LIBS) kombiniert sind.
Vervollständigen Sie Ihren gesamten Analyse-Workflow mit einem einzigen Instrument.
Verlieren Sie keine Zeit beim Probentransfer und der zusätzlichen Probenvorbereitung.
Sparen Sie 90 % der Zeit, die für die Bestimmung der Mikrostrukturzusammensetzung benötigt wird*.
* im Vergleich zur Inspektion mit konventionellem SEM/EDS (Scan-Elektronenmikroskopie und energiedispersive Spektroskopie)
Heute und in Zukunft flexibel arbeiten
Erfüllen Sie noch heute Ihre Anforderungen
Erfüllen Sie internationale und regionale Normen, darunter ISO 16232 und VDA 19 für die Automobilindustrie, ISO 4406 und DIN 51455 für Hydraulikflüssigkeiten und Öl sowie USP 788 für die pharmazeutische Fertigung. Erstellen Sie benutzerdefinierte Methoden, um Analysen gemäß unternehmenseigenen Normen und Prozessen durchzuführen.
Ein Weg, um Ihre zukünftigen Anforderungen zu erfüllen
Steigen Sie auf die gleichzeitige visuelle und chemische Partikelanalyse um, indem Sie zu einer 2-in-1-Lösung aufrüsten. Das Mikroskop DM6 M kann problemlos mit der laserinduzierten Plasmaspektroskopie (LIBS) nachgerüstet werden.
Auch das Sauberkeitsanalysesystem lässt sich nachrüsten, um auch kleinere Partikel mit höheren Vergrößerungen visualisieren zu können.
Durchgeführte Sauberkeitsanalyse mit einem LIBS-System.
Finden Sie die richtige Lösung für Ihre Anforderungen
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Das richtige Sauberkeitsanalysesystem für Ihre Anforderungen
Führen Sie eine effizientere und zuverlässigere Partikelzählung und -klassifizierung nach internationalen und regionalen Standards mit einer Auswahl an speziellen Konfigurationen durch, die auf Ihre spezifischen Anforderungen zugeschnitten sind.
Finden Sie die richtige Lösung für Ihre Anforderungen
Bitte beantworten Sie ein paar kurze Fragen, damit wir Ihnen die beste Konfiguration empfehlen können, die Ihren Anforderungen entspricht.
