Cleanliness Analysis Systems
Kontaminationen schnell aufspüren
Automobil- und Elektronikzulieferer und -hersteller können durch die Analyse von Partikelmenge, -größe und -zusammensetzung eine bessere Produktleistung und -lebensdauer durch effiziente und zuverlässige technische Sauberkeit gewährleisten. Sauberkeitsanalysesysteme von Leica Microsystems bieten eine optimierte Software und eine einzigartige 2-in-1-Lösung für visuelle und chemische Analysen.
Ihre Vorteile
- Steigern Sie den Durchsatz, indem Sie mehr in kürzerer Zeit analysieren.
- Erhalten Sie mehr Informationen zum Partikelursprung für eine bessere Risikobewertung und sicherere Entscheidungen.
- Erfüllen Sie alle Ihre aktuellen Anforderungen und seien Sie auf sich ändernde Anforderungen vorbereitet.
Schneller Ergebnisse erhalten
Stellen Sie sicher, dass Sie Ihre Ergebnisse der Sauberkeitsanalyse effizienter erhalten:
- Sparen Sie 30 % der Scanzeit bei Filterproben mit Partikelgrößen zwischen 5 und 10 Mikrometern.
- Bei Partikelgrößen über 25 Mikrometer können Sie Partikel an Filterproben dreimal schneller scannen.
Identifizieren Sie die reflektierenden Partikel an Ihrer Filterprobe schneller und berechnen Sie dank optimierter Algorithmen den kreisförmigen Durchmesser unregelmäßig geformter Partikel mit verbesserter Geschwindigkeit.
Vereinfachen Sie Ihren Arbeitsablauf noch weiter, indem Sie die automatische Partikelanalyse über mehrere Filterproben hinweg nutzen und so Zeit sparen.
Erhalten Sie einen tieferen Einblick in die Partikel
„Killerpartikel“ zuverlässiger identifizieren.
Je härter und größer ein Partikel ist, desto höher ist sein Schadenspotenzial.
- Unterscheiden Sie automatisch zwischen metallischen und nichtmetallischen Partikeltypen.
- Unterscheiden Sie einfach zwischen Partikeln und Fasern.
- Messen Sie die Partikelhöhe mit automatisierten Softwaretools.
Setzen Sie einen (Laser) Fokus auf die Kontaminationsquelle
Führen Sie gleichzeitig visuelle und chemische Analysen mit einer 2-in-1-Lösung durch, bei der die Cleanliness Expert-Software und die laserinduzierte Plasmaspektroskopie (LIBS) kombiniert sind.
- Vervollständigen Sie Ihren gesamten Analyse-Workflow mit einem einzigen Instrument.
- Verlieren Sie keine Zeit beim Probentransfer und der zusätzlichen Probenvorbereitung.
- Sparen Sie 90 % der Zeit, die für die Bestimmung der Mikrostrukturzusammensetzung benötigt wird*.
* im Vergleich zur Inspektion mit konventionellem SEM/EDS (Scan-Elektronenmikroskopie und energiedispersive Spektroskopie)
Heute und in Zukunft flexibel arbeiten
Erfüllen Sie noch heute Ihre Anforderungen
Erfüllen Sie internationale und regionale Normen, darunter ISO 16232 und VDA 19 für die Automobilindustrie, ISO 4406 und DIN 51455 für Hydraulikflüssigkeiten und Öl sowie USP 788 für die pharmazeutische Fertigung. Erstellen Sie benutzerdefinierte Methoden, um Analysen gemäß unternehmenseigenen Normen und Prozessen durchzuführen.
Ein Weg, um Ihre zukünftigen Anforderungen zu erfüllen
Steigen Sie auf die gleichzeitige visuelle und chemische Partikelanalyse um, indem Sie zu einer 2-in-1-Lösung aufrüsten. Das Mikroskop DM6 M kann problemlos mit der laserinduzierten Plasmaspektroskopie (LIBS) nachgerüstet werden.
Auch das Sauberkeitsanalysesystem lässt sich nachrüsten, um auch kleinere Partikel mit höheren Vergrößerungen visualisieren zu können.
Das richtige Sauberkeitsanalysesystem für Ihre Anforderungen
Führen Sie eine effizientere und zuverlässigere Partikelzählung und -klassifizierung nach internationalen und regionalen Standards mit einer Auswahl an speziellen Konfigurationen durch, die auf Ihre spezifischen Anforderungen zugeschnitten sind.
Finden Sie die richtige Lösung für Ihre Anforderungen
Bitte beantworten Sie ein paar kurze Fragen, damit wir Ihnen die beste Konfiguration empfehlen können, die Ihren Anforderungen entspricht.
Standardsystem
Digitales Mikroskop Emspira 3 mit Analysesoftware Cleanliness Expert.
- Partikelgrößen bis 25 μm
- Manuelle Unterscheidung von metallischen und nichtmetallischen Partikeln
- Messung von Partikeln in X und Y
High-end System
DM6 M-Mikroskop, K3-Kamera und Analysesoftware Cleanliness Expert.
- Partikelgrößen bis 5 μm
- Vollautomatische Erkennung metallischer und nichtmetallischer Partikel sowie Unterscheidung zwischen Partikeln und Fasern
- Messung von Partikeln in X, Y und Z
Professionelles System
Mikroskop DM6 M mit LIBS, K3-Kamera und Analysesoftware Cleanliness Expert.
- Partikelgrößen bis 5 μm
- Vollautomatische Erkennung metallischer und nichtmetallischer Partikel sowie Unterscheidung zwischen Partikeln und Fasern
- Messung von Partikeln in X, Y und Z
- Simultane Identifizierung der Partikelzusammensetzung
- Kein Probentransfer und zusätzliche Probenvorbereitung
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