Leica DM4500 P Vielseitiges Polarisationsmikroskop für Materialanalyse, Geowissenschaften und Forschung:

Das Leica DM4500 P wurde speziell für polarisationsmikroskopische Untersuchungen in Petrografie, Mineralogie und Gefügecharakterisierungen in den Materialwissenschaften konzipiert.

Das vielseitige Leica DM4500 P ist neben den klassischen Anwendungsbereichen ideal für Qualitäts- und Materialanalysen von Glas, Kunststoff, Textilien, Fasern, etc., sowie zur Prüfung von Displays in der Halbleiterindustrie.

Das Mikroskop erkennt automatisch, welche Kontrastiermethode und welches Objektiv verwendet werden, und passt die Lichtintensität an – konstante Qualität und Reproduzierbarkeit sind damit garantiert.