Milling Me Softly – Sample Preparation for Improved EBSD
16 Apr 2026 07:00 - 17 Apr 2026 11:00 UTC
Otto-von-Guericke Universität Magdeburg, Hörsaal H3 im Gebäude 50, Steinernetischstraße 6, 39106 Magdeburg, Germany
Entdecken Sie unsere Lösungen
German version below
Accurate and reproducible EBSD results start long before data acquisition — they begin with sample preparation. In this presentation, Leica Microsystems will discuss practical aspects of preparing samples for EBSD analysis, with a focus on milling, polishing, and surface finishing approaches used to support reliable diffraction pattern quality.
Using real‑world examples, the talk will explore how different preparation steps influence EBSD outcomes and how complementary techniques can be combined within a preparation workflow. Preparation systems including the cross-sectioning device EM TXP, the ion beam milling system EM TIC 3X, and the sputter coater EM ACE600 will be referenced to illustrate typical approaches used in EBSD sample preparation.
The session is intended for materials scientists and microscopy users interested in preparation strategies that contribute to consistent EBSD analysis across a range of materials.
Speaker
Dr. Youssef Kasper
Product Sales Specialist, Leica Microsystems
Thomas Pfeifer
Advanced Workflow Specialist
--------------------------------------
Milling Me Softly – Probenpräparation für verbesserte EBSD‑Ergebnisse
Genaue und reproduzierbare EBSD‑Ergebnisse beginnen lange vor der Datenerfassung – sie starten bei der Probenpräparation. In diesem Vortrag stellt Leica Microsystems praxisnahe Aspekte der Probenpräparation für die EBSD‑Analyse vor, mit Fokus auf Fräs‑, Polier‑ und Oberflächenbearbeitungsschritte, die eine zuverlässige Qualität der Beugungsmuster unterstützen.
Anhand praxisnaher Beispiele wird erläutert, wie unterschiedliche Präparationsschritte die EBSD‑Ergebnisse beeinflussen und wie sich verschiedene Techniken innerhalb eines Präparationsworkflows kombinieren lassen. Präparationssysteme wie das Querschnittspräparationsgerät EM TXP, das Ionenstrahlätzsystem EM TIC 3X sowie der Sputter Coater EM ACE600 werden dabei zur Veranschaulichung typischer Ansätze in der EBSD‑Probenpräparation herangezogen.
Der Vortrag richtet sich an Materialwissenschaftlerinnen und Materialwissenschaftler sowie Anwenderinnen und Anwender der Mikroskopie, die sich für Präparationsstrategien interessieren, die zu konsistenten EBSD‑Analysen bei unterschiedlichen Materialien beitragen.
Referenten
Dr. Youssef Kasper
Product Sales Specialist, Leica Microsystems
Thomas Pfeifer
Advanced Workflow Specialist
