EM TXP
Ionenstrahlätzsysteme
Elektronenmikroskopie Probenvorbereitung
Produkte
Startseite
Leica Microsystems
EM TXP Zielpräzisionsinstrument zur Probenvorbereitung
Lesen Sie unsere neuesten Artikel
Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
This article describes cross-section analysis for electronics concerning quality control and failure analysis of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), etc.
Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
High-Quality EBSD Sample Preparation
This article describes a method for EBSD sample preparation of challenging materials. The high-quality samples required for electron backscatter diffraction are prepared with broad ion-beam milling.
Querschnitt-Ionenstrahlfräsen von Batteriekomponenten
Für ein umfassendes Verständnis von Lithiumbatteriesystemen ist eine qualitativ hochwertige Oberflächenpräparation erforderlich, um die innere Struktur und Morphologie zu untersuchen. Aufgrund der…
Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science
This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
Batterieherstellung
Die Batterieherstellung stellt mehrere wichtige Herausforderungen in Bezug auf die Inspektion dar. Es werden Lösungen für die Probenvorbereitung und die mikroskopische visuelle und chemische Analyse…
Anwendungsbereiche
Mikroskope für die Uhrmacherbranche
In der Uhrmacherbranche erleichtert die hohe Präzision der Leica Stereomikroskope die Feinmontage von Uhren und die zuverlässige Inspektion, wodurch hohe Qualität und Wertarbeit gewährleistet wird.…
Automobilindustrie und Transport Industriemikroskope
Leica ist Ihr zuverlässiger Partner für Bildgebungslösungen, die Ihnen zu einem Wettbewerbsvorteil verhelfen können. Mit unseren intelligenten Mikroskopsystemen können Sie sich voll darauf…
Mikroskope für Materialanalysen
Die Materialanalyse erfordert Mikroskoplösungen für die Bildgebung, Messung und Analyse von Merkmalen in einer Vielzahl von Materialien wie Metalllegierungen, Halbleitern, Glas und Keramik sowie…
Märkte für industrielle Mikroskopie
Maximale Betriebszeit und effizientes Erreichen von Zielen helfen Ihnen, Ihr Ergebnis zu verbessern. Mit den Mikroskoplösungen von Leica Microsystems erhalten Sie Einblicke in kleinste Probendetails…
Querschnittsanalyse in der Elektronik
Die Querschnittsanalyse für die Elektronik ermöglicht eine detaillierte Analyse der Mechanismen von Fehlern bei Komponenten wie Leiterplatten (PCBs), Baugruppen (PCBAs) und integrierten Schaltkreisen…
Elektronik- und Halbleiterindustrie
Für die Elektronik- und Halbleiterindustrie sind Lösungen für eine effiziente Inspektion, Querschnitts- und Sauberkeitsanalyse sowie für die Forschung und Entwicklung von PCBs, Wafern, IC-Chips und…
Batterieherstellung
Die Batterieherstellung stellt mehrere wichtige Herausforderungen in Bezug auf die Inspektion dar. Es werden Lösungen für die Probenvorbereitung und die mikroskopische visuelle und chemische Analyse…