EM TXP Zielpräzisionsinstrument zur Probenvorbereitung
Die Leica EM TXP ist ein einzigartiges Instrument für die Probenvorbereitung, das speziell für das Fräsen, Sägen, Schleifen und Polieren von Proben vor einer Untersuchung mittels REM (Rasterelektronen-
mikroskop), TEM (Transmissionselektronenmikroskop) oder LM (Lichtmikroskop) entwickelt wurde.
Dank eines integrierten Stereomikroskopes können selbst schwer erkennbare Ziele präzise lokalisiert und problemlos präpariert werden. Mit dem Probenschwenkarm kann die Probe direkt in einem Winkel zwischen 0° und 60° bzw. 90° - bezogen auf die Vorderseite - betrachtet werden, und die Entfernung kann mit Hilfe der Okularstrichplatte bestimmt werden.
Key Features
Integrierte automatische Prozesskontrolle
Die integrierte Prozesskontrolle mit automatischer Ost-West-Führung, kraftgeregelter Vorschubsteuerung und Countdown-Funktion spart Ihnen Zeit bei zeitaufwändigen regelmäßig anfallenden Probenpräparationen.
Oberflächenbearbeitung und Zieluntersuchung
Da die Oberflächenbearbeitung und die Zieluntersuchung mit dem integrierten Stereomikroskop durchgeführt werden können, müssen Sie die Probe zur Abstandsbestimmung und Beurteilung der Oberfläche nicht zu einem anderen Gerät transportieren, was die Effizienz bei der Bearbeitung steigert.
Unterschiedlichste Werkzeugeinsätze
Dank unterschiedlichster Werkzeugeinsätze können die Proben gefräst, gesägt, gebohrt, geschliffen und poliert werden, ohne hierzu aus der Leica EM TXP genommen werden zu müssen. Da die Probenvorbereitung auch gleichzeitig unter dem Stereomikroskop beobachtet werden kann, werden Zeit und Kosten gespart.
Inspection of Multilayer Samples
Workflow in Quality Control: Combining the target surfacing system Leica EM TXP and the light microscope Leica DM2700 M allows to reduce the required procedure, streamline the workflow and produce reliable and precise results.
