SR GSD Weitfeld-Höchstauflösung mit Ground State Depletion (GSDIM)

Leica Microsystems sind Pioniere in der Höchstauflösungsmikroskopie. Mit der Einführung des Leica TCS STED in 2007 begann ein neues Zeitalter von Produkten, die die Schranken der beugungsbegrenzten Bildgebung durchbrechen.

Auf der Basis des etablierten Leica AM TIRF MC Systems und des inversen Mikroskops Leica DMI6000 B bedient sich das Leica SR GSD eines bewährten Verfahrens namens Ground State Depletion (GSDIM). Mit diesem wissenschaftlich belegten Verfahren wird unter Verwendung von Standardfluoreszenzfarbstoffen eine Verbesserung der Auflösung bis zu 20 nm erzielt.