Visoria M Materialmikroskop
Profitieren Sie bei Ihren täglichen Mikroskopieabläufen von Effizienz und Komfort. Das Visoria M Materialmikroskop ist für Anwendungen in der Metall-, Elektronik- und Polymerindustrie sowie für Labore der Materialwissenschaft konzipiert.
Optimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe mit codierten Funktionen, optimierten Lichteinstellungen und anderen Mikroskopfunktionen. Dank des ergonomischen Designs des Mikroskops können Sie auch bequemer arbeiten und Belastungen minimieren.
Visoria M kennenlernen
Für routinemäßige Materialuntersuchungen
Mit dem Visoria M Materialmikroskop können Sie die Mikrostruktur von Metallen, Legierungen, elektronischen und mechanischen Komponenten, Verbundwerkstoffen, Glas, Keramik und mehr untersuchen. Bei Nutzung in Kombination mit der Enersight Softwareplattform können Sie auch Querschnitts- oder Schichtdickenanalysen durchführen.
Zeit sparen mit optimierten Beleuchtungseinstellungen
Verbringen Sie mit Visoria M mehr Zeit mit der eigentlichen Beobachtung und Untersuchung von Proben. Wenn Sie die Vergrößerung oder die Kontrastmethode des Mikroskops ändern, müssen Sie die Helligkeit dank der Lichtmanagementfunktion nicht manuell anpassen. Die Beleuchtungseinstellungen werden dank der Codierung des Mikroskops automatisch angewendet.
Vereinfachen Ihrer Dokumentation
Sie können Probendetails schnell mit einem Tastendruck erfassen, während Sie das Bild im Auge behalten. Die Taste für die Bildaufnahme am Mikroskopstativ des Visoria M ist leicht zugänglich.
Wenn Sie ein Bild zu Dokumentationszwecken speichern, werden ausgewählte Systemeinstellungen automatisch und zusammen mit den Metadaten des Bildes gespeichert.
Die Messskala wird automatisch angepasst und zu dem Bild hinzugefügt, was die Effizienz erhöht und Ihnen wertvolle Zeit spart.
Mikroskopbedienung mit Leichtigkeit
Dank der intuitiven Bedienung des Visoria°M führen Sie tägliche Routineaufgaben schnell und zuverlässig aus.
- Mithilfe der Farbcodierung ermitteln Sie für jedes Objektiv schnell die richtige Blende.
- Der integrierte Fokusstopp schützt Ihre Proben und Objektive vor Beschädigungen.
- Für einen genaueren Fokus bei höheren Vergrößerungen nutzen Sie das dreistufige Fokussystem – Grob-, Mittel- und Feineinstellung.
Die Skala der Aperturblende am Durchlicht-Kondensor und der Auflichtachse ist mit Farbmarkierungen versehen, die den Farbcodes der Objektive entsprechen.
Durch Digitaltechnik ohne Okulare arbeiten
Das digitale Materialmikroskop Visoria M ohne Okulare bietet eine Reihe von Vorteilen:
- Arbeiten in einer komfortablen und entspannten Position, da Bilder direkt auf einem Tablet angesehen werden.
- Schnelles Visualisieren und Dokumentieren von Arbeitsschritten und unkompliziertes Besprechen von Bildergebnissen mit Kollegen.
- Einsparen von Platz auf dem Arbeitstisch, da kein Computer erforderlich ist.
Dauerhaft komfortabel arbeiten
Visoria M passt sich an Ihre Anforderungen an – es ermöglicht eine angemessene Körperhaltung und verringert die Belastung von Hals und Rücken bei langen Arbeitsphasen am Mikroskop.
Dank der symmetrischen Anordnung und Höhenverstellung der Bedienelemente für Fokus und Tischposition können Sie bequem mit geraden Schultern und ergonomischer Hand- und Armhaltung arbeiten. Sie können Visoria M mit nur einer Hand bedienen.
Die Bedienung lässt sich unkompliziert von rechts- auf linkshändig umbauen, was besonders nützlich ist, wenn Sie das Mikroskop gemeinsam mit anderen Nutzern verwenden.
Anpassung Ihres Mikroskops mit Ergo-Zubehör
Dank der Anpassbarkeit von Visoria M können Sie eine aufrechte Körperhaltung bewahren. Mithilfe des ergonomischen Zubehörs passen Sie das Mikroskop ganz an Ihre Bedürfnisse an.
- Ergonomische Tuben: Wählen Sie die ergonomischen 15°-Tuben oder die einstellbaren Vario-Tuben (Neigung 0–35°) für eine entspannte Kopfhaltung und flexible Einblickwinkel.
- Ergonomische Module: Setzen Sie ErgoModule unterhalb des Tubus ein, um die Okularhöhe für eine komfortable Sitzhaltung anzupassen.
- Ergonomischer Lift: Der optionale ErgoLift ermöglicht unkomplizierte Höhenanpassungen des Mikroskops.
Weniger wiederkehrende Bewegungen verringern Belastungen
Sie arbeiten über viele Stunden an Ihrem Mikroskop?
Verringern Sie mit Visoria M das Risiko von Beschwerden und Verletzungen durch wiederholte Belastung. Minimieren Sie die Auswirkungen durch wiederholte Bewegungen, indem Sie die Höhe und das erforderliche Drehmoment der Tisch- und der Fokussteuerung anpassen.
Visualisieren von Probendetails mit dem passenden Kontrast
Für industrielle Anwendungen und Materialprüfungen sowie für Einsätze in Forschung & Entwicklung ermöglicht Visoria M die detaillierte Betrachtung von Strukturen und Defekten wie Kratzern oder Verunreinigungen auf Ihren Proben.
Das Mikroskop nutzt eine Reihe von Kontrastverfahren, darunter:
- Hellfeld
- Dunkelfeld
- Polarisation
- Differential-Interferenz-Kontrast (DIC)
- Schräglicht
- Fluoreszenz
Insbesondere die Schräglichtbeleuchtung hilft Ihnen, die Oberflächentopografie besser zu visualisieren.
Schnelle Probenübersicht mit dem 0,7x-Makroobjektiv
Wenn Sie Makrostrukturen visualisieren müssen, können Sie mit dem optionalen 0,7x-Makroobjektiv schnell von einer Probenübersicht zur Betrachtung feiner Details wechseln. Mit diesem Objektiv können Sie auf einen Blick eine Ansicht des Probendurchmessers von ca. 36 mm sehen und sich schnell orientieren und einen Überblick verschaffen. Im Vergleich zu der Übersicht, die Sie mit herkömmlichen Objektiven erhalten, können Sie mit dem Makroobjektiv beim Sichten von Proben Zeit sparen.
Sie können außerdem die feinen Details Ihrer Probe bei höherer Vergrößerung visualisieren, indem Sie eine Reihe verschiedener Objektive einsetzen.
Gestützt durch die Enersight Softwareplattform
Vereinfachen und optimieren Sie Ihre Arbeitsabläufe mit dem Materialmikroskop Visoria M und der Softwareplattform Enersight. Sie hilft Ihnen, Daten über eine einzige, intuitive Benutzeroberfläche zu vergleichen, zu messen und weiterzugeben.
Hauptvorteile:
- Ermitteln der Dicke von Beschichtungen oder Materialschichten mithilfe der Funktion zur Schichtdickenmessung.
- Beobachtung von Proben mit einem größeren Sichtfeld und höherer Auflösung mithilfe von XY-Stitching mit einem manuellen Tisch.
- Erfassung scharfer Bilder von Proben mit erweiterter Tiefenschärfe (EDOF).
- Aufnahme hochwertiger Bilder mit optimaler Ausleuchtung und Kameraeinstellungen durch die Quick Brightness-Funktion.
- Optimierung von Bildern durch automatische Korrektur von Schattierung aufgrund ungleichmäßiger Beleuchtung.
- Gewinnen eines besseren Probenverständnisses durch Zusammenführen mehrerer Bilder aus unterschiedlichen Kontrastverfahren wie Hellfeld und Dunkelfeld.
