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Hochwertige EBSD-Probenvorbereitung
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Querschnitt-Ionenstrahlfräsen von Batteriekomponenten
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Workflows and Instrumentation for Cryo-electron Microscopy
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Introduction to Ion Beam Etching with the EM TIC 3X
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Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science
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The potential of cryogenic broad ion beam milling used in combination with scanning electron microscopy (cryo-BIB-SEM) for imaging and analyzing the microstructure of cryogenically stabilized soft…
Macroscale to Nanoscale Pore Analysis of Shale and Carbonate Rocks
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