EM TIC 3X
Elektronenmikroskopie Probenvorbereitung
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EM TIC 3X Ionenstrahlätzsystem
Effizienz und Flexibilität
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Workflow Solutions for Sample Preparation Methods for Material Science
This brochure presents and explains appropriate workflow solutions for the most frequently required sample preparation methods for material science samples.
Quality Control via Cross Sections of PCBs, PCBAs, ICs, and Batteries
Why cross sections of printed circuit boards (PCBs) and assemblies (PCBAs), integrated circuits (ICs), and battery components are useful for quality control (QC), failure analysis (FA), and research…
Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
Hochwertige EBSD-Probenvorbereitung
Es wird eine zuverlässige und effiziente EBSD-Probenvorbereitung von „gemischten“ kristallografischen Materialien mit Ionenbreitstrahlfräsen beschrieben. Das beschriebene Verfahren erzeugt…
How to Prepare and Analyse Battery Samples with Electron Microscopy
This workshop covers the sample preparation process for lithium and novel battery sample analysis, as well as other semiconductor samples requiring high-resolution cross-section imaging.
Querschnitt-Ionenstrahlfräsen von Batteriekomponenten
Für ein umfassendes Verständnis von Lithiumbatteriesystemen ist eine qualitativ hochwertige Oberflächenpräparation erforderlich, um die innere Struktur und Morphologie zu untersuchen. Aufgrund der…
Ion Beam Milling Guide: Enhancing Surface Quality for High-Resolution Imaging and Analysis
In this article you can learn how to optimize the preparation quality of your samples by using the ion beam etching method with the EM TIC 3X ion beam milling machine. A short introduction of the…
Workflows and Instrumentation for Cryo-electron Microscopy
Cryo-electron microscopy is an increasingly popular modality to study the structures of macromolecular complexes and has enabled numerous new insights in cell biology. In recent years, cryo-electron…
Studying the Microstructure of Natural Polymers in Fine Detail
The potential of cryogenic broad ion beam milling used in combination with scanning electron microscopy (cryo-BIB-SEM) for imaging and analyzing the microstructure of cryogenically stabilized soft…
Macroscale to Nanoscale Pore Analysis of Shale and Carbonate Rocks
Physical porosity in rocks, like shale and carbonate, has a large effect on the their storage capacity. The pore geometries also affect their permeability. Imaging the visible pore space provides…
Practical Applications of Broad Ion Beam Milling
Mechanical polishing can be time consuming and frustrating. It can also introduce unwanted artifacts when preparing cross-sectioned samples for electron backscatter diffraction (EBSD) in the scanning…
Batterieherstellung
Die Batterieherstellung stellt mehrere wichtige Herausforderungen in Bezug auf die Inspektion dar. Es werden Lösungen für die Probenvorbereitung und die mikroskopische visuelle und chemische Analyse…
Materialwissenschaft und Analyse
Für die Materialwissenschaft und Analyse spielen Mikroskope eine Schlüsselrolle. Sie werden für die Analyse von Metalllegierungen, Keramiken und Polymeren in der Forschung und Qualitätskontrolle…
Metallographie
Die mikrostrukturelle Analyse von Metallen, Legierungen und anderen Materialien kann durch den Einsatz eines metallographischen Mikroskops von Leica optimiert werden.
Anwendungsbereiche
Automobilindustrie und Transport Industriemikroskope
Leica ist Ihr zuverlässiger Partner für Bildgebungslösungen, die Ihnen zu einem Wettbewerbsvorteil verhelfen können. Mit unseren intelligenten Mikroskopsystemen können Sie sich voll darauf…
Energie, Bergbau und Rohstoffe Mikroskope
Die leistungsstarken und anpassbaren Mikroskopielösungen von Leica Microsystems unterstützen Sie dabei, Ihre Ressourcen optimal zu nutzen, neue Projekte zu entwickeln und die Vielfalt natürlicher…
Märkte für industrielle Mikroskopie
Maximale Betriebszeit und effizientes Erreichen von Zielen helfen Ihnen, Ihr Ergebnis zu verbessern. Mit den Mikroskoplösungen von Leica Microsystems erhalten Sie Einblicke in kleinste Probendetails…
Querschnittsanalyse in der Elektronik
Die Querschnittsanalyse für die Elektronik ermöglicht eine detaillierte Analyse der Mechanismen von Fehlern bei Komponenten wie Leiterplatten (PCBs), Baugruppen (PCBAs) und integrierten Schaltkreisen…
Elektronik- und Halbleiterindustrie
Für die Elektronik- und Halbleiterindustrie sind Lösungen für eine effiziente Inspektion, Querschnitts- und Sauberkeitsanalyse sowie für die Forschung und Entwicklung von PCBs, Wafern, IC-Chips und…
Batterieherstellung
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Materialwissenschaft und Analyse
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