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Cross-section Analysis for Electronics Manufacturing
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Structural and Chemical Analysis of IC-Chip Cross Sections
This article shows how electronic IC-chip cross sections can be efficiently and reliably prepared and then analyzed, both visually and chemically at the microscale, with the EM TXP and DM6 M LIBS…
Hochwertige EBSD-Probenvorbereitung
Es wird eine zuverlässige und effiziente EBSD-Probenvorbereitung von „gemischten“ kristallografischen Materialien mit Ionenbreitstrahlfräsen beschrieben. Das beschriebene Verfahren erzeugt…
How to Prepare and Analyse Battery Samples with Electron Microscopy
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Querschnitt-Ionenstrahlfräsen von Batteriekomponenten
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Workflows and Instrumentation for Cryo-electron Microscopy
Cryo-electron microscopy is an increasingly popular modality to study the structures of macromolecular complexes and has enabled numerous new insights in cell biology. In recent years, cryo-electron…
Introduction to Ion Beam Etching with the EM TIC 3X
In this article you can learn how to optimize the preparation quality of your samples by using the ion beam etching method with the EM TIC 3X ion beam milling machine. A short introduction of the…
Studying the Microstructure of Natural Polymers in Fine Detail
The potential of cryogenic broad ion beam milling used in combination with scanning electron microscopy (cryo-BIB-SEM) for imaging and analyzing the microstructure of cryogenically stabilized soft…
Macroscale to Nanoscale Pore Analysis of Shale and Carbonate Rocks
Physical porosity in rocks, like shale and carbonate, has a large effect on the their storage capacity. The pore geometries also affect their permeability. Imaging the visible pore space provides…
Practical Applications of Broad Ion Beam Milling
Mechanical polishing can be time consuming and frustrating. It can also introduce unwanted artifacts when preparing cross-sectioned samples for electron backscatter diffraction (EBSD) in the scanning…
Batterieherstellung
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Maximale Betriebszeit und effizientes Erreichen von Zielen helfen Ihnen, Ihr Ergebnis zu verbessern. Mit den Mikroskoplösungen von Leica Microsystems erhalten Sie Einblicke in kleinste Probendetails…
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Elektronik- und Halbleiterindustrie
Für die Elektronik- und Halbleiterindustrie sind Lösungen für eine effiziente Inspektion, Querschnitts- und Sauberkeitsanalyse sowie für die Forschung und Entwicklung von PCBs, Wafern, IC-Chips und…
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