Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X
Objekttische für Leica EM TIC 3X
Drehtisch
Der Drehtisch (nachrüstbar) wurde speziell für das Großflächenfräsen (Flachfräsen) konzipiert. Die mit Ionenstrahl vorbereitete Fläche hat einen Durchmesser von 25 mm.
Standardtisch
Standardtisch für Routineanwendungen und Kontrastverstärkung der vorbereiteten Oberfläche.
Mehrfachprobentisch
Der Mehrfachprobentisch wird verwendet, wenn ein hoher Durchsatz erwünscht ist. Drei Proben pro Durchlauf können im Leica EM TIC 3X (z. B. über Nacht) ohne jegliche Benutzerinteraktion geladen und automatisch verarbeitet werden.
Kühltisch
Der Kühltisch bietet die Möglichkeit, die Probe bei sehr niedriger Temperatur zu bearbeiten. Bei Temperaturen von Probenhalter und Maske bis zu -160 ° C können extrem wärmeempfindliche Proben wie Kautschuk, wasserlösliche Polymerfasern oder sogar Marshmallows (falls erwünscht) mit hoher Qualität verarbeitet werden.
Vakuum-Kryo-Transfersystem
Perfekt für die Oberflächenpräparation umgebungssensibler Proben, die anschließend unter Edelgas-/Vakuum-/Kryobedingungen auf Beschichtungs- und / oder SEM-Systeme übertragen werden können
Probenhalter
Verschiedene Probenhalter
Verschiedene Probenhalter für nahezu jede Probengröße und ein breiter Anwendungsbereich sind verfügbar, z.B. ein Probenhalter für das gesamte Verfahren von der mechanischen Vorbereitung (Leica EM TXP) über das Ionenstrahl-Slope-Schneiden (Leica EM TIC 3X) bis hin zur SEM-Untersuchung und zur Lagerung.
Probenhalter für den Drehtisch
Probenhalter für Proben bis 12 mm Höhe sowie Adapter für handelsübliche SEM Stubs
Probenhalter für hochdruckgefrorene Proben
Für hochdruckgefrorene Proben stehen mehrere Halter zur Verfügung.
Bild links - Kryo-Probenhalter
Bild rechts - Kryo-Probenhalter für Proben bis 10 x 7 x 4 mm