EM TXP Querschnittspräparationsgerät
EM TXP ist ein mechanisches Querschnittspräparationsgerät, das Proben für die visuelle Untersuchung präzise verkleinert. Mit EM TXP können Sie die Probenvorpräparation optimieren.
Sie minimieren die Ionenstrahlätzzeit und erhalten spiegelglatte Oberflächen für die lichtmikroskopische Untersuchung.
Präparieren Sie Proben mit verdeckten Strukturen für das Ionenstrahlätzen
Die Multi-Tool-Funktionalität bietet für jeden Prozessschritt das passende Zubehör und ermöglicht eine präzise Positionierung der Werkzeugrotation und des Neigungswinkels. Präzises Vorschneiden legt verdeckte Strukturen in der Probe frei und verkürzt die Ionenstrahlätzzeit durch Entfernen von unerwünschtem Material.
Die Morphologie des Zahnbeins eines Microraptors (c, d). Die schwarzen Pfeile zeigen die Odontoblastenfortsätze (als „odp“ bezeichnet), die im Querschnitt freigelegt sind. Nach Wang Yan et al, „Comparative microstructural study on the teeth of Mesozoic birds and non-avian dinosaurs“ R. Soc. Open Sci.10230147 doi.org/10.1098/rsos.230147; creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Fine-polished cross-section surface
- Bereiten Sie Oberflächen entsprechend den Genauigkeitsanforderungen für lichtmikroskopische Untersuchungen vor.
- Polieren Sie die Schnittfläche präzise für die visuelle Untersuchung.
- Machen Sie Ihre Probenstruktur sicher unter dem Stereomikroskop sichtbar.
Bildnachweis: Bilder Kurt Fuchs Photo Design. Fotos vom Team der Forschungsgruppe Christiansen im Referenzlabor von Leica Microsystems am INAM/IKTS in Forchheim, Deutschland
Bringen Sie Ihre Probe einfach durch den Workflow.
Steigern Sie die Effizienz und reduzieren Sie die Anzahl der Arbeitsschritte durch kompatible Probenhalter. Verwenden Sie denselben Probenhalter für EM TXP und EM TIC 3X während des gesamten Oberflächenpräparationsprozesses. Durch die einheitliche Probenmontage und -ausrichtung während des gesamten Präparationsprozesses wird das Risiko von Probenbeschädigungen und Fehlausrichtungen verringert.
