Die integrierte Prozesskontrolle mit automatischer Ost-West-Führung, kraftgeregelter Vorschubsteuerung und Countdown-Funktion spart Ihnen Zeit bei zeitaufwändigen regelmäßig anfallenden Probenpräparationen.

Da die Oberflächenbearbeitung und die Zieluntersuchung mit dem integrierten Stereomikroskop durchgeführt werden können, müssen Sie die Probe zur Abstandsbestimmung und Beurteilung der Oberfläche nicht zu einem anderen Gerät transportieren, was die Effizienz bei der Bearbeitung steigert.

Dank unterschiedlichster Werkzeugeinsätze können die Proben gefräst, gesägt, gebohrt, geschliffen und poliert werden, ohne hierzu aus der Leica EM TXP genommen werden zu müssen. Da die Probenvorbereitung auch gleichzeitig unter dem Stereomikroskop beobachtet werden kann, werden Zeit und Kosten gespart.

Workflow in Quality Control: Combining the target surfacing system Leica EM TXP and the light microscope Leica DM2700 M allows to reduce the required procedure, streamline the workflow and produce reliable and precise results.

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