Komponenten

DM6 M LIBS-Materialanalyse-Mikroskop enthält:

Menge

Reflector DF

11888740
1

Reflector BF, fixed

11888716
1

CTR compact XY

11525227
1

LED lamp housing DM6, cable long

11504242
1

Eyepiece HC PLAN s 10x/25 Br. M

11507808
2

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 5x/0,15 BD

11566046
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 10x/0,30 BD

11566503
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 20x/0,45 BD

11566509
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 50x/0,80 BD

11566201
1

Microscope Objective HC PL FLUOTAR 100x/0,90 BD

11566203
1

LIBS standard sample

11560204
1

SpectralTools licence

11560205
1

LIBS module, complete

11560200
1

LIBS reflector cube

11561105
1

Microscope Objective 20x/0.40 LIBS NUV

11518149
1

Laser safety set for mot. stage

11560201
1

HP E27k G5 27inches UHD

11533663
1

Silver Workstation

11640714
1

DM6 M basic stand, LED RL, mot. Z

11889191
1

DM6 M Top,6x,M32,mot.,4x (RL,BD), mot.

11889213
1

Cover objective revolving nosepiece

11888105
1

Adapter XY-basic / XY-advanced

11505237
1

Smart Move for DM/DMI Series

11505180
1

Objective protection glass

11518150
1

Basic docu tube BDT, mech., 19 CIP

11505296
1

Tube adapter incl. 1 docu. port

11505161
1

Mot. Stage EK14, 76x50 (LIBS)

11560202
1

Slide holder IND

11561053
1

Spacer ring 32/25

11561097
1

Leica K3C

11547114
1

C-Mount HC 0.55x

11541544
1

LAS X Industry Core

11640620
1

Dongle for LAS X optional modules

11640879
1

LAS X Quantimet Basic SW Package

11640605
1

Advanced application training one day

9I_CM_APPLIC1
1

Service Installation

9I_CM_CLASS_H
1

Keyboard German ; USB Hub

11600224
1

> Spezifikationen

  • Inklusive Light Manager für eine zeitsparende und einfache Bedienung. 
  • Für einen sehr schnellen Überblick über die Probe kann das 1,25x Objektiv angepasst werden. 
  • Der integrierte Contrast Manager passt die erforderlichen Einstellungen für jedes Objektiv und jeden Kontrastmodus vollautomatisch an und ermöglicht so eine einfache Bedienung für jeden Anwender.
  • 27" 4k HDMI Monitor
  • W2 Workstation (für Bildgebung mit xyz-motorisierten Mikroskopen)
  • Motorisierter Z-Antrieb
  • Mit Vergrößerungswechsler
  • Phototubus HC L2TU 4/5/6
  • Motorisierter Objektivrevolver
  • Mit DF-Kontrast
  • Automatisiert (motorisiert + Scannen)
  • Scanningtisch 100x100 (2 mm)
  • Metalleinsatz 160x116
  • LIBS-Standardprobe

DM6 M LIBS Lösung zur Analyse der Zusammensetzung von Mikrostrukturen

Kombinieren Sie die visuelle und qualitative chemische Inspektion in einem einzigen Arbeitsschritt. Das spart Ihnen bis zu 90% Zeit bei der Bestimmung der Mikrostruktur-Zusammensetzung, verglichen zur herkömmlichen Methode via SEM/EDS. Dank integrierter Funktion zur Laserspektroskopie (LIBS) erhalten Sie binnen einer Sekunde den exakten chemischen Fingerabdruck der Materialstruktur, die Sie im Mikroskopbild sehen.

Anwendungsbereiche

Metallographie

Die mikrostrukturelle Analyse von Metallen, Legierungen und anderen Materialien kann durch den Einsatz eines metallographischen Mikroskops von Leica optimiert werden.

Automobilindustrie und Transport Industriemikroskope

Leica ist Ihr zuverlässiger Partner für Bildgebungslösungen, die Ihnen zu einem Wettbewerbsvorteil verhelfen können. Mit unseren intelligenten Mikroskopsystemen können Sie sich voll darauf…

Material- & Geowissenschaften

Sie benötigen die richtigen Werkzeuge für eine zuverlässige und qualitativ hochwertige Bildgebung und Analyse. Leica Microsystems bietet Ihnen alles aus einer Hand. Zusammen mit kompetenter…

Technische Sauberkeit

For industrial and electronics manufacturers as well as non-regulated pharma applications, solutions for an efficient technical cleanliness offer significant advantages.

Mikroskope für Materialanalysen

Die Materialanalyse erfordert Mikroskoplösungen für die Bildgebung, Messung und Analyse von Merkmalen in einer Vielzahl von Materialien wie Metalllegierungen, Halbleitern, Glas und Keramik sowie…

Märkte für industrielle Mikroskopie

Maximale Betriebszeit und effizientes Erreichen von Zielen helfen Ihnen, Ihr Ergebnis zu verbessern. Mit den Mikroskoplösungen von Leica Microsystems erhalten Sie Einblicke in kleinste Probendetails…

Metallindustrie

Leica Mikroskop-Lösungen für die Metallindustrie sind nützliche Werkzeuge, um die Qualität von Werkstoffen zu beurteilen und die Einhaltung relevanter Normen sicherzustellen.

Querschnittsanalyse in der Elektronik

Die Querschnittsanalyse für die Elektronik ermöglicht eine detaillierte Analyse der Mechanismen von Fehlern bei Komponenten wie Leiterplatten (PCBs), Baugruppen (PCBAs) und integrierten Schaltkreisen…

Elektronik- und Halbleiterindustrie

Für die Elektronik- und Halbleiterindustrie sind Lösungen für eine effiziente Inspektion, Querschnitts- und Sauberkeitsanalyse sowie für die Forschung und Entwicklung von PCBs, Wafern, IC-Chips und…

Batterieherstellung

Die Batterieherstellung stellt mehrere wichtige Herausforderungen in Bezug auf die Inspektion dar. Es werden Lösungen für die Probenvorbereitung und die mikroskopische visuelle und chemische Analyse…

Messmikroskope

Messmikroskope sind hilfreich für die Bestimmung der Abmessungen von Probenmerkmalen während der Qualitätskontrolle, bei der Fehleranalyse sowie in der Forschung und Entwicklung. Erfahren Sie mehr…
Scroll to top