Materialwissenschaft und Analyse
Mikroskope für die Materialwissenschaft und Analyse werden für die Analyse von Materialien wie Metalllegierungen, Halbleitern, Glas, Keramik und Kunststoffen verwendet. Leica Microsystems bietet fortschrittliche Mikroskopielösungen für die Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und F&E, die Ihnen tiefere Einblicke ermöglichen.
Bitte kontaktieren Sie uns, wenn Sie eine persönliche Beratung zu unseren Mikroskopielösungen für die Materialwissenschaft und Analyse wünschen.
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Wie lassen sich Verunreinigungen und innere Strukturen analysieren?
Der Einsatz der Mikroskopie mit Polarisation und differentiellem Interferenzkontrast (DIC) hilft dem Anwender, innere Materialstrukturen wie Mikrorisse und Einschlüsse sichtbar zu machen, die bei normaler Hellfeldbeleuchtung nicht sichtbar sind. Polarisation hebt anisotrope Materialien hervor, während DIC den Kontrast in transparenten Proben ohne Färbung verstärkt. Die Mikroskope DM4 P und DM6 M bieten Polarisation und DIC.
Wie bereitet man Proben für die Mikroskopie präzise vor?
Präzises Schneiden, Schleifen und Polieren harter Materialien ermöglicht es Ihnen, bestimmte Probenbereiche mit mikrometergenauer Präzision zu bearbeiten. Dies ist möglich, wenn das EM TXP-Zielvorbereitungssystem verwendet wird.
Für beschädigungsfreie Querschnitte von heterogenen oder spröden Materialien und ultraflachen Oberflächen setzt das EM TIC 3X das Dreifach-Ionenstrahlfräsen ein.
Wo finden Mikroskope zur Materialanalyse Anwendung?
Materialanalyse-Mikroskope werden für eine Vielzahl von Anwendungen eingesetzt, z. B. für die Qualitätskontrolle (QC), Forschung und Entwicklung (R&D), technische Sauberkeit und Fehleranalyse (FA). Sie sind wichtig für eine Vielzahl von Branchen und Bereichen wie Automobilbau, Luft- und Raumfahrt, Legierungen, Halbleiter, Elektronik, medizinische Geräte, Geowissenschaften, Forensik, Chemietechnik und Pharmazie.
Warum sollten Sie sich für eine 2-Methoden-in-1-Lösung entscheiden?
Eine 2‑in‑1‑Lösung kombiniert ein optisches Mikroskop mit der Fähigkeit zur Laserinduzierten Breakdown-Spektroskopie (LIBS) Sie können sowohl eine Materialprobe abbilden als auch ihre chemische Zusammensetzung analysieren, einschließlich mikrostruktureller Merkmale wie Phasen und Einschlüsse. Diese Lösung hilft den Anwendern, eine rationalisierte, effiziente Materialanalyse durchzuführen.
Warum sollten Sie Leica Mikroskope für die Materialwissenschaft und Analysen verwende?
Niemals ein Detail verpassen
Geowissenschaftler, Petrologen, Kunstrestauratoren und -historiker, Archäologen und Experten aus verwandten Bereichen können sich auf Leica Optiken, Imaging-Lösungen, Software und ergonomisches Zubehör verlassen. Sie ermöglichen genaue Probenarbeit, detaillierte Strukturanalysen und Dokumentation.
Schnellere Ergebnisse erzielen
Mit dem Angebot an Expertenmodulen für die `` Leica Application Suite X for Industry Software`` können Anwender bei der Durchführung von materialwissenschaftlichen Analysen schneller Erkenntnisse gewinnen. Zu den Modulen gehören LAS X Grain Expert, Phase Expert, Metallography Toolbox und 2D Measurement.
Genaue Messung der Dicke von Beschichtungen oder Ablagerungen
Messen Sie Beschichtungs-, Film- oder Schichtdicken auf Materialien, mehrschichtigen Verbundstoffen und Mineralien oder Sedimentmaterialien mit der Schichtdickenfunktion der Enersight-Software. Anwender können Schichtgrenzen anhand von Kontrast oder Farbe erkennen, automatisch Schnittlinien zeichnen und die minimale, maximale und durchschnittliche Schichtdicke bestimmen.
Unsere Lösungen für die Materialwissenschaft
DM 750 P | Visoria M & P | DM4 M & P | DM6 M LIBS | DMi8 A | |
| Objektivrevolver | Manuell | Kodiert | Kodiert | Motorisiert | Kodiert |
| Kontrastmethoden | Manuell | Kodiert | Motorisiert | Motorisiert | Motorisiert |
| Beleuchtungsmanagement | Nicht verfügbar | Verfügbar | Verfügbar | Verfügbar | Verfügbar |
| Unterstützte Kontrastverfahren | IL: BF, DF, Pol, (Fluoreszenz) TL: BF, DF, Phase, Pol | IL: BF, DF, Pol, DIC, Oblique (Fluoreszenz) TL: BF, DF, Phase, DIC, Pol | IL: BF, DF, Pol, DIC, (Fluoreszenz) TL: BF, DF, Phase, DIC, Pol | IL: BF, DF, Pol, DIC, (Fluoreszenz) TL: BF, DF, Phase, DIC, Pol | IL: BF, DF, Pol, DIC, (Fluoreszenz) TL: BF, DF, Phase, DIC, Pol |
| Z-Antrieb | Manuell | Manuell | Manuell/Motorisiert | Motorisiert | Motorisiert |
| Drehbarer Objekttisch | Manuell | Manuell | Manuell | Manuell | Motorisiert |
| Unterstützte Software | LAS X Industry | Enersight/LAS X Industrie* | LAS X Industry | LAS X Industry | LAS X Industry |
* LAS X Industry bietet begrenzte Geräteunterstützung für Visoria M & P
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Häufig gestellte Fragen zu Materialwissenschaft und Analyse
Die Materialwissenschaft befasst sich mit der Struktur, den Eigenschaften, der Leistung und der Verarbeitung von Materialien wie Metallen, Keramiken, Polymeren und Verbundwerkstoffen. Im Mittelpunkt steht die Frage, wie sich die Zusammensetzung und Struktur von Materialien auf ihr Verhalten in verschiedenen Umgebungen auswirken.
Eine 2-Methoden-in-1-Lösung für die Materialanlyse mit dem LIBS-Mikroskop kombiniert Optik und laserinduzierte Plasmaspektroskopie (LIBS) für die gleichzeitige optische und chemische Analyse von Materialien.
LIBS ist eine elementare/chemische Analysetechnik. Die Analyse der Materialzusammensetzung kann damit auf folgende Weise durchgeführt werden. Zunächst trifft ein hochenergetischer Laserpuls auf einen Bereich des untersuchten Materials. Die Laserenergie wird absorbiert, was zu einem Abtrag und der Bildung eines Kraters führt. Es entsteht ein Plasma aus freien Atomen und Elektronen. Der Plasmazusammenbruch erfolgt unmittelbar mit der Emission von Elementarlinienspektren. Die Elemente, die in dem vom Laser getroffenen Bereich vorhanden sind, können dann identifiziert werden.
Die Materialanalyse dient der Bestimmung der physikalischen und chemischen Eigenschaften von Materialien. Beispiele sind Metalllegierungen wie Stahl und Aluminium, Keramiken wie Glas und Silizium, Kunststoffe und Polymere, Mineralien und geologische Proben usw. Sie wird häufig in der Material- und Geowissenschaft sowie in der industriellen Qualitätskontrolle, der Produktion, der Fehleranalyse und der Forschung und Entwicklung eingesetzt.
