Medical Device Quality Assurance and Quality Control

Fertigung von Medizinprodukten

Zuverlässige Bilderfassung und -analyse für Ihre Dokumentation in der Qualitätssicherung und -kontrolle: Mit Mikroskoplösungen von Leica Microsystems können Sie sich auf die Ergebnisse der visuellen Inspektion und die Dokumentation von Medizinprodukten verlassen.

Leica Microsystems bietet Komplettlösungen für die visuelle Inspektion an, die zuverlässige Bilddaten liefern. Erkennen, analysieren, validieren und dokumentieren Sie Defekte effizient, um die Einhaltung der Anforderungen für Ihre Medizinprodukte zu gewährleisten. Insbesondere bei Medizinprodukten der höheren Risikoklassen II und III wie Stents, Zahnimplantate, Katheter und vielen anderen implantierbaren Geräten können Sie von diesen Lösungen profitieren.

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Das Wissensportal von Leica Microsystems bietet Ihnen Wissens- und Lehrmaterial zu den Themen der Mikroskopie. Die Inhalte sind so konzipiert, dass sie Einsteiger, erfahrene Praktiker und Wissenschaftler gleichermaßen bei ihrem alltäglichen Vorgehen und Experimenten unterstützen.

Quality Assurance Improvement Across Industries

Precision is paramount. Imagine a pacemaker that fails mid-operation or a semiconductor flaw that causes a critical system crash. In industries, such as medical devices, electronics, and…

Radially grown sugar crystals which have been imaged with a Leica microscope using circular polarized light.

Polarizing Microscope Image Gallery

How polarization microscope images can be used for analysis is shown in this gallery. Polarized light microscopy (also known as polarizing microscopy) is an important method for different fields and…

Some 2D measurements, e.g., lengths and areas, made on a PCB sample with a Leica measurement microscope using the Enersight software.

How to Select the Right Measurement Microscope

With a measurement microscope, users can measure the size and dimensions of sample features in both 2D and 3D, something crucial for inspection, QC, failure analysis, and R&D. However, choosing the…

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Microscope Calibration for Measurements: Why and How You Should Do It

Microscope calibration ensures accurate and consistent measurements for inspection, quality control (QC), failure analysis, and research and development (R&D). Calibration steps are described in this…

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Automotive Part Verification and Development according to Specifications

Automotive part verification during the development and production of parts and components by suppliers or manufacturers is important for ensuring that specifications are met. Specifications are…

Area of a printed circuit board (PCB) which was imaged with extended depth of field (EDOF) using digital microscopy.

Depth of Field in Microscope Images

For microscopy imaging, depth of field is an important parameter when needing sharp images of sample areas with structures having significant changes in depth. In practice, depth of field is…

Leitz Laborlux: Tartaric acids, polarization contrast

Das Prinzip der Polarisationsmikroskopie

Die Polarisationsmikroskopie wird in den Material- und Geowissenschaften routinemäßig eingesetzt, um Materialien und Mineralien anhand ihrer charakteristischen Brechungseigenschaften und Farben zu…

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Rapidly Visualizing Magnetic Domains in Steel with Kerr Microscopy

The rotation of polarized light after interaction with magnetic domains in a material, known as the Kerr effect, enables the investigation of magnetized samples with Kerr microscopy. It allows rapid…

Region of a patterned wafer inspected using optical microscopy and automated and reproducible DIC (differential interference contrast). With DIC users are able to visualize small height differences on the wafer surface more easily.

6-Inch Wafer Inspection Microscope for Reliably Observing Small Height Differences

A 6-inch wafer inspection microscope with automated and reproducible DIC (differential interference contrast) imaging, no matter the skill level of users, is described in this article. Manufacturing…

Optical microscope image, which is a composition of both brightfield and fluorescence illumination, showing organic contamination on a wafer surface. The inset images in the upper left corner show the brightfield image (above) and fluorescence image (below with dark background).

Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers

As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…

Messung

Messmikroskope sind hilfreich für die Bestimmung der Abmessungen von Probenmerkmalen während der Qualitätskontrolle, bei der Fehleranalyse sowie in der Forschung und Entwicklung. Erfahren Sie mehr über Leica Messmikroskope.

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Inspektionsmikroskope

Leica Inspektionsmikroskope decken Ihre Anforderungen ab, ganz gleich ob Sie einen Gesamtüberblick über eine einzelne Komponente, eine ganze Probe oder feine Details erkennen möchten.

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Inspektion für Montage- und Nacharbeiten

Die ergonomischen Mikroskoplösungen von Leica Microsystems bieten Ihnen die Genauigkeit und Schnelligkeit, um die Produktivität zu steigern und hochwertige Ergebnisse auf komfortable Weise zu erzielen. Durch eine herausragende optische Qualität und ein großes Sichtfeld gewährleisten diese Systeme den Bedienerkomfort und optimieren gleichzeitig Workflows für Montage- und Nacharbeiten.

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Industrielle Anwendungen

Mit hochwertigen und innovativen Bildgebungssystemen für die Betrachtung, Vermessung und Analyse von Mikrostrukturen unterstützt die Industry Division von Leica Microsystems das Streben ihrer Kunden nach höchster Qualität und Ergebnissen.

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