Makellose Oberflächen für relevante Ergebnisse

Bereiten Sie hochwertige Oberflächen von verschiedenen Probentypen vor, unabhängig davon, ob sie hart, weich, spröde, heterogen oder hitzeempfindlich sind. EM TIC 3X hilft dabei, die inneren Strukturen der Proben sichtbar zu machen und eine makellose Oberflächenqualität zu erzielen.

  • Erzeugen Sie hochwertige Fräsoberflächen mit drei breiten Strahlen, ohne dass eine Tischdrehung erforderlich ist.
  • Gewinnen Sie die größte Querschnittsfläche, um die höchste Analyseausbeute zu erreichen.
  • Wählen Sie aus fünf Stufen und mehreren Probenhaltern.
Bildunterschrift: 1: Querschnitt eines SiC-Schleifpapiers; 2: Querschnitt eines Furniers; 3: Koaxiale Polymerfaser (wasserlöslich), hergestellt bei -120 °C; 4: Ölschiefer (Nanoporen), sichtbar gemacht mit dem EM TIC 3X (Drehtisch) Gesamtprobengröße Ø 25 mm
Bildunterschrift: 1: Querschnitt eines SiC-Schleifpapiers; 2: Querschnitt eines Furniers; 3: Koaxiale Polymerfaser (wasserlöslich), hergestellt bei -120 °C; 4: Ölschiefer (Nanoporen), sichtbar gemacht mit dem EM TIC 3X (Drehtisch) Gesamtprobengröße Ø 25 mm

Einfaches Vorbereiten verdeckter Strukturen

Behalten Sie Ihre Zielstruktur immer im Blick – selbst bei verdeckten Details. Richten Sie die Probe mit Hilfe eines Stereomikroskops präzise mit Maske und Ionenstrahlquellen aus. Beobachten und dokumentieren Sie den gesamten Prozess.

Dreifach-Ionenstrahl, ausgerichtet auf die Probe und die Standardmaske
Dreifach-Ionenstrahl, ausgerichtet auf die Probe und die Standardmaske

Effiziente Vorbereitung von Folienproben

Präparieren Sie Querschnitte von einzelnen oder mehreren Folienschichten mit minimaler Neupositionierung oder Delaminierung. Erfolgreiches Fräsen einer Vielzahl von Folientypen, um Artefakte der mechanischen Präparation zu beseitigen und eine hochauflösende REM-Analyse von Batteriekomponenten zu ermöglichen.

REM-Bilder eines dreischichtigen Polymerseparators für Lithium-Ionen-Batterien (LIB), der in einem atmosphärenkontrollierten Workflow hergestellt wurde. Mit freundlicher Genehmigung: Prof. Dr.-Ing. Silke Christiansen INAM eV Labor, Forchheim, Deutschland.
REM-Bilder eines dreischichtigen Polymerseparators für Lithium-Ionen-Batterien (LIB), der in einem atmosphärenkontrollierten Workflow hergestellt wurde. Mit freundlicher Genehmigung: Prof. Dr.-Ing. Silke Christiansen INAM eV Labor, Forchheim, Deutschland.

Bringen Sie Ihre Probe einfach durch den Workflow

Steigern Sie die Effizienz und reduzieren Sie die Arbeitsschritte mit kompatiblen Probenhaltern. Verwenden Sie denselben Halter für EM TXP und EM TIC 3X für den gesamten Workflow zur Oberflächenpräparation. Durch die konsistente Probenbefestigung und -ausrichtung während des gesamten Präparationsprozesses wird das Risiko von Probenbeschädigungen und Fehlausrichtungen verringert.

Beispiel für einen atmosphärenkontrollierten Workflow für umgebungsempfindliche und/oder kryogene Proben
Beispiel für einen atmosphärenkontrollierten Workflow für umgebungsempfindliche und/oder kryogene Proben

Ermöglichen Sie eine neue Reihe von Experimenten ganz nach Bedarf

Erweitern Sie Ihr Experimentierspektrum mit einem neuen Tisch, ohne dass Sie Serviceleistungen in Anspruch nehmen oder Stillstandszeiten des Geräts in Kauf nehmen müssen, selbst bei Kryotischen.

  • Standardtisch
  • Mehrfachprobentisch
  • Drehtisch
  • Kühltisch
  • Vakuum-Kryo-Transfersystem

EM TIC 3X ist kompatibel mit anderen Leica Instrumenten, einschließlich EM VCT500 und EM ACE600.

Anpassung an unterschiedliche Workflows durch leicht austauschbare Tische.
Anpassung an unterschiedliche Workflows durch leicht austauschbare Tische.
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