Wolfgang Grünewald , PhD
- Er promovierte in Experimentalphysik an der Fakultät für Physik der Technischen Universität Chemnitz, Deutschland.
- In seiner Diplomarbeit und Dissertation beschäftigte er sich mit der TEM-Untersuchung von dünnen Schichten und dem Ionenfräsen als geeignete Probenpräparationsmethode
- 12 Jahre als Applikationsmanager bei Bal-Tec in der Entwicklung von Ionenfrässystemen und Präparationsmethoden tätig
- Seit 2008 weltweiter Spezialist für Festkörperprobenpräparation bei Leica Microsystems
- Inhaber von 5 Patenten und Autor zahlreicher wissenschaftlicher Publikationen
High-Quality EBSD Sample Preparation
This article describes a method for EBSD sample preparation of challenging materials. The high-quality samples required for electron backscatter diffraction are prepared with broad ion-beam milling.
Porous Ceramics - Sample Preparation for SEM
Application Note for Leica EM RES102 - Ceramic membrane filters with pore sizes down to a few nanometres must be investigated in cross-section with regard to the structure of the pores. The smallest…
Paper Samples - Sample Preparation for SEM
Application Note for Leica EM RES102 - A coated paper sample has been prepared with ion beam slope cutting in order to test the procedure with regard to its applicability. With the use of ion beam…
Ion Beam Polishing of Sample Surfaces - Sample Preparation for SEM
Application Note for Leica EM RES102 - Ion milling can be used to reduce the roughness of sample surfaces. Small angles less than 6° with respect to the sample surface are necessary. The high voltage…