Ciencias de la vida
Ciencias de la vida
Este es el lugar para ampliar sus conocimientos, capacidades de investigación y aplicaciones prácticas de la microscopía en diversos campos científicos. Aprenda a conseguir una visualización precisa, interpretación de imágenes y avances en la investigación. Encuentre información detallada sobre microscopía avanzada, técnicas de obtención de imágenes, preparación de muestras y análisis de imágenes. Los temas tratados incluyen la biología celular, la neurociencia y la investigación del cáncer, con especial atención a las aplicaciones e innovaciones de vanguardia.
Investigación con Pez Cebra
Para obtener los mejores resultados en clasificación, selección, manipulación y captura y procesamiento de imágenes necesita ver los detalles y estructuras para poder tomar las decisiones adecuadas…
Microscopios para disección
Las disecciones pueden implicar pasar horas mirando por los oculares de un microscopio para disección. Leica Microsystems le permite escoger entre una variada gama de microscopios y un amplio rango de…
Depth of Field in Microscope Images
For microscopy imaging, depth of field is an important parameter when needing sharp images of sample areas with structures having significant changes in depth. In practice, depth of field is…
Rapidly Visualizing Magnetic Domains in Steel with Kerr Microscopy
The rotation of polarized light after interaction with magnetic domains in a material, known as the Kerr effect, enables the investigation of magnetized samples with Kerr microscopy. It allows rapid…
6-Inch Wafer Inspection Microscope for Reliably Observing Small Height Differences
A 6-inch wafer inspection microscope with automated and reproducible DIC (differential interference contrast) imaging, no matter the skill level of users, is described in this article. Manufacturing…
Visualizing Photoresist Residue and Organic Contamination on Wafers
As the scale of integrated circuits (ICs) on semiconductors passes below 10 nm, efficient detection of organic contamination, like photoresist residue, and defects during wafer inspection is becoming…
Burr Detection During Battery Manufacturing
See how optical microscopy can be used for burr detection on battery electrodes and determination of damage potential to achieve rapid and reliable quality control during battery manufacturing.
Key Factors for Efficient Cleanliness Analysis
An overview of the key factors necessary for technical cleanliness and efficient cleanliness analysis concerning automotive and electronics manufacturing and production is provided in this article.
Rapid Semiconductor Inspection with Microscope Contrast Methods
Semiconductor inspection during the production of patterned wafers and ICs (integrated circuits) is important for identifying and minimizing defects. To increase the efficiency of quality control in…
