Cuando las superficies de las muestras de los materiales están preparadas para SEM o microscopía de luz incidente, la muestra normalmente se somete a varios procesos hasta que la capa o la superficie a analizar está mecanizada con precisión. Las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems para la tecnología de estado sólido cubren todos los pasos necesarios para la exigente preparación de muestras de alta calidad.
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¡Simplifique la preparación de muestras EM con las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems!
Mientras que el Leica EM TXP agrupa todos los pasos de la preparación previa en un instrumento, el Leica TIC 3X realiza el acabado final y de alta calidad de la superficie para prácticamente cualquier tipo de material. En conexión con la configuración de enlace del Leica EM VCT, la muestra se puede transferir a continuación a (crio-) SEM en condiciones óptimas.
Corte y pulido
Con frecuencia, la preparación empieza con la necesidad de cortar, moler y pulir la superficie con precisión antes del fresado con haz de iones y el recubrimiento con metal/carbono. Con el sistema de preparación de objetivos Leica EM TXP, todos los pasos de mecanizado necesarios se pueden realizar en un único instrumento: desde el corte de diamante y el fresado al pulido.
Procesamiento de la superficie de alta calidad
El exclusivo sistema de fresado con haz de iones del Leica EM TIC 3X es el sistema elegido para EDS, WDS, Auger y EBSD, ya que, con frecuencia, el fresado con haz de iones es el único método capaz de lograr secciones transversales de alta calidad y superficies alisadas de prácticamente cualquier material. El proceso revela las estructuras internas de una muestra al mismo tiempo que minimiza la deformación o los daños.
Fresado con haz de iones 3
Leica EM TIC 3X
Sistema de corte y pulido con haz de iones
Leica EM RES102
Sistema de fresado con haz de iones
Leica EM TXP
Sistema de preparación de la superficie de blancos
Sistemas de recubridores
Para permitir y mejorar la captura y procesamiento de imágenes de las muestras en el microscopio electrónico, estas deben ser conductoras. Se puede aplicar una amplia gama de técnicas de recubrimiento, en función de la muestra y de su preparación para el análisis. Desde el recubrimiento a temperatura ambiente de bajo vacío hasta el criorrecubrimiento de alto vacío, Leica Microsystems satisface toda la gama de requisitos para el recubrimiento.
Preparación criogénica
La congelación por alta presión es con frecuencia el método preferido para conservar muestras acuosas en un estado próximo al nativo, ya que captura los cambios complejos en estructuras pequeñas o en la dinámica celular. Leica Microsystems combina la congelación a alta presión con la estimulación luminosa. Permite visualizar procesos altamente dinámicos o los cambios estructurales de las muestras fotosensibles con una resolución de nanómetros y con una precisión de milisegundos.
Ultramicrotomos y Cryo-Ultramicrotomos
Tanto si se trata de una muestra de tejido, un polímero, goma, metales o nanopartículas, los ultramicrótomos Leica permiten obtener secciones extremadamente finas y una calidad perfecta en la superficie en una amplia gama de aplicaciones. Desde la ciencia de los materiales hasta la investigación del cáncer, nuestros ultramicrótomos se utilizan para muchos tipos diferentes de investigaciones y controles de calidad en todo el mundo.
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