Cuando las superficies de las muestras de los materiales están preparadas para SEM o microscopía de luz incidente, la muestra normalmente se somete a varios procesos hasta que la capa o la superficie a analizar está mecanizada con precisión. Las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems para la tecnología de estado sólido cubren todos los pasos necesarios para la exigente preparación de muestras de alta calidad.

Mientras que el Leica EM TXP agrupa todos los pasos de la preparación previa en un instrumento, el Leica TIC 3X realiza el acabado final y de alta calidad de la superficie para prácticamente cualquier tipo de material. En conexión con la configuración de enlace del Leica EM VCT, la muestra se puede transferir a continuación a (crio-) SEM en condiciones óptimas.

¡Simplifique la preparación de muestras EM con las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems!