Fresado con haz de iones

Cuando las superficies de las muestras de los materiales están preparadas para SEM o microscopía de luz incidente, la muestra normalmente se somete a varios procesos hasta que la capa o la superficie a analizar está mecanizada con precisión. Las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems para la tecnología de estado sólido cubren todos los pasos necesarios para la exigente preparación de muestras de alta calidad.

¿Necesita ayuda?

Póngase en contacto con nuestro equipo de expertos para ayudar a simplificar su preparación de muestras de ME.

¡Simplifique la preparación de muestras EM con las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems!

Mientras que el Leica EM TXP agrupa todos los pasos de la preparación previa en un instrumento, el Leica TIC 3X realiza el acabado final y de alta calidad de la superficie para prácticamente cualquier tipo de material. En conexión con la configuración de enlace del Leica EM VCT, la muestra se puede transferir a continuación a (crio-) SEM en condiciones óptimas.

Corte y pulido

Con frecuencia, la preparación empieza con la necesidad de cortar, moler y pulir la superficie con precisión antes del fresado con haz de iones y el recubrimiento con metal/carbono. Con el sistema de preparación de objetivos Leica EM TXP, todos los pasos de mecanizado necesarios se pueden realizar en un único instrumento: desde el corte de diamante y el fresado al pulido.

Procesamiento de la superficie de alta calidad

El exclusivo sistema de fresado con haz de iones del Leica EM TIC 3X es el sistema elegido para EDS, WDS, Auger y EBSD, ya que, con frecuencia, el fresado con haz de iones es el único método capaz de lograr secciones transversales de alta calidad y superficies alisadas de prácticamente cualquier material. El proceso revela las estructuras internas de una muestra al mismo tiempo que minimiza la deformación o los daños.

Sputter Coater & Freeze Fracture Solutions

Sistemas de recubridores

Para permitir y mejorar la captura y procesamiento de imágenes de las muestras en el microscopio electrónico, estas deben ser conductoras. Se puede aplicar una amplia gama de técnicas de recubrimiento, en función de la muestra y de su preparación para el análisis. Desde el recubrimiento a temperatura ambiente de bajo vacío hasta el criorrecubrimiento de alto vacío, Leica Microsystems satisface toda la gama de requisitos para el recubrimiento.

Due to the open chamber design and continuous gas exchange the SampLink chambers keep live cells healthy

Preparación criogénica

La congelación por alta presión es con frecuencia el método preferido para conservar muestras acuosas en un estado próximo al nativo, ya que captura los cambios complejos en estructuras pequeñas o en la dinámica celular. Leica Microsystems combina la congelación a alta presión con la estimulación luminosa. Permite visualizar procesos altamente dinámicos o los cambios estructurales de las muestras fotosensibles con una resolución de nanómetros y con una precisión de milisegundos.

Overview of Drosophila gastric caeca and a mitochondrion with well-defined cristae and well-preserved surrounding membranes. Micrographs courtesy of Dr. Syed (NIH/NIDCR) and Dr. Bleck (NIH/NHLBI)

Ultramicrotomos y Cryo-Ultramicrotomos

Tanto si se trata de una muestra de tejido, un polímero, goma, metales o nanopartículas, los ultramicrótomos Leica permiten obtener secciones extremadamente finas y una calidad perfecta en la superficie en una amplia gama de aplicaciones. Desde la ciencia de los materiales hasta la investigación del cáncer, nuestros ultramicrótomos se utilizan para muchos tipos diferentes de investigaciones y controles de calidad en todo el mundo.

¿Interesado en saber más?

Hable con nuestros expertos. Estaremos encantados de responder a todas sus preguntas e inquietudes.

Contacto

¿Prefiere una consulta personal Show local contacts

Encontrará una lista más detallada de todos los contactos aquí.