[Translate to spanish:] Ion Beam Milling

Fresado con haz de iones

Cuando las superficies de las muestras de los materiales están preparadas para SEM o microscopía de luz incidente, la muestra normalmente se somete a varios procesos hasta que la capa o la superficie a analizar está mecanizada con precisión. Las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems para la tecnología de estado sólido cubren todos los pasos necesarios para la exigente preparación de muestras de alta calidad.

Mientras que el Leica EM TXP agrupa todos los pasos de la preparación previa en un instrumento, el Leica TIC 3X realiza el acabado final y de alta calidad de la superficie para prácticamente cualquier tipo de material. En conexión con la configuración de enlace del Leica EM VCT, la muestra se puede transferir a continuación a (crio-) SEM en condiciones óptimas.

¡Simplifique la preparación de muestras EM con las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems!

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Fresado con haz de iones 3

Leica EM TIC 3X

Sistema de corte y pulido con haz de iones

Sample Preparation for Materials Science , Microscopios para la industria del automóvil y el transporte , Microscopios para la ingeniería de metales y maquinaria , Microelectronics & Semiconductor Industry , Microscopios para la industria energética, minera y de recursos naturales , Microscopios para la industria del hierro y del acero

Leica EM RES102

Sistema de fresado con haz de iones

Microscopios para la industria del automóvil y el transporte , Microscopios para la ingeniería de metales y maquinaria , Microscopios para la industria energética, minera y de recursos naturales , Microelectronics & Semiconductor Industry

Leica EM TXP

Sistema de preparación de la superficie de blancos

Sample Preparation for Materials Science , Microscopios por el sector de la Relojería , Microscopios para la industria del automóvil y el transporte , Microscopios para la ingeniería de metales y maquinaria , Microelectronics & Semiconductor Industry

Corte y pulido

Con frecuencia, la preparación empieza con la necesidad de cortar, moler y pulir la superficie con precisión antes del fresado con haz de iones y el recubrimiento con metal/carbono. Con el sistema de preparación de objetivos Leica EM TXP, todos los pasos de mecanizado necesarios se pueden realizar en un único instrumento: desde el corte de diamante y el fresado al pulido.

Procesamiento de la superficie de alta calidad

El exclusivo sistema de fresado con haz de iones del Leica EM TIC 3X es el sistema elegido para EDS, WDS, Auger y EBSD, ya que, con frecuencia, el fresado con haz de iones es el único método capaz de lograr secciones transversales de alta calidad y superficies alisadas de prácticamente cualquier material. El proceso revela las estructuras internas de una muestra al mismo tiempo que minimiza la deformación o los daños.