お問い合わせ

イオンビームミリングシステム

Need Assistance?

Contact our team of experts to help you simplify your EM sample preparation.

2

Leica EM TIC 3X ‐ Ion Beam Slope Cutter

Leica EM TIC 3X

トリプルイオンミリング装置 ライカ

Leica EM TXP

ターゲット断面試料作製装置