Fresagem de feixes de iõesFresagem de feixes de iões

Sistema de fresamento de feixes de íon

Quando a superfície do material da amostra é preparada para SEM ou microscopia de luz incidente, normalmente a amostra passa por vários processamentos, até que a camada ou superfície a ser analisada seja usinada com precisão. As soluções de fluxo de trabalho da Leica Microsystems para tecnologias do estado sólido abrangem todas as etapas necessárias para a preparação de amostras que demandam alta qualidade.

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Enquanto o Leica EM TXP reúne todas as etapas de pré-preparação em um instrumento, o Leica EM TIC 3X realiza a etapa final de preparação superficial de quase qualquer material. Conectando com a configuração de acoplamento do Leica EM VCT, a amostra pode, então, ser transferida para o (Cryo) SEM sob ótimas condições. 

Corte e polimento

A preparação normalmente ocorre com um corte preciso, lixamento e polimento da superfície, antes da pulverização por feixe de íons e cobertura com metal/carbono. Com o sistema de preparação do alvo Leica EM TXP, todas as etapas de usinagem necessárias podem ser concluídas em um instrumento – desde o corte e fresa com diamante até o polimento.

Superfície de alta qualidade

O sistema único de pulverização com amplo feixe de íons do Leica EM TIC 3X é o sistema escolhido para o EDS, WDS, Auger e EBSD, pois a pulverização com feixe de íons é normalmente o único método capaz de atingir seções transversais de alta qualidade e superfícies planas em quase qualquer tipo de material. O processo revela as estruturas internas da amostra, minimizando deformações e danos.

Sputter Coater & Freeze Fracture Solutions

Sistemas para revestimento, gravação e fratura

Para permitir e melhorar a obtenção de imagem das amostras no microscópio eletrônico, elas precisam ser condutoras. Uma gama de técnicas de revestimento pode ser aplicada, dependendo da amostra e de sua preparação para a análise. Desde revestimentos de baixo vácuo em temperatura ambiente até revestimentos de alto vácuo em temperatura criogênica, a Leica Microsystems abrange a mais completa gama de requisitos de revestimento.

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 Due to the open chamber design and continuous gas exchange the SampLink chambers keep live cells healthy

Sistemas de preparação criogênica

O congelamento em alta pressão geralmente é o método preferido para a preservação de amostras aquosas em estado próximo ao nativo, pois ele captura as complexas mudanças na estrutura fina ou na dinâmica da célula. A Leica Microsystems combina o congelamento em alta pressão com estímulo por luz: isso permite visualizar processos altamente dinâmicos ou as mudanças estruturais de amostras fotossensíveis em uma resolução nanométrica e com precisão de milissegundos.

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Overview of Drosophila gastric caeca and a mitochondrion with well-defined cristae and well-preserved surrounding membranes. Micrographs courtesy of Dr. Syed (NIH/NIDCR) and Dr. Bleck (NIH/NHLBI)

Ultra-micrótomos e Crio-ultra-micrótomos

Seja uma amostra de tecido, polímero, metal ou nanopartículas, os ultra-micrótomos Leica fornecem seções extremamente finas e com qualidade superficial perfeita em uma ampla gama de aplicações. Desde a ciência dos materiais até a pesquisa do câncer, nossos ultra-micrótomos são utilizados para diversos tipos de pesquisa e controle de qualidade por todo o planeta.

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 Due to the open chamber design and continuous gas exchange the SampLink chambers keep live cells healthy
Overview of Drosophila gastric caeca and a mitochondrion with well-defined cristae and well-preserved surrounding membranes. Micrographs courtesy of Dr. Syed (NIH/NIDCR) and Dr. Bleck (NIH/NHLBI)

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