Workshop – Ion Beam Preparation of Solid-State Samples
21 Apr 2026 07:30 UTC
Max-Planck-Institut, für Festkörperforschung, Heisenbergstraße 1, 70569 Stuttgart, Germany
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German Version below
Ion beam etching is currently the most widely used method for preparing samples for electron microscopy. In this process, the sample material is bombarded with a high-energy argon ion beam. The ion energy and the angle of incidence depend on the specific application.
In this one-day workshop, you will have the opportunity to discuss your sample preparation challenges with our specialists. During several hands-on sessions using the Leica EM TXP (a precision instrument for sample preparation) and the Leica EM TIC 3X (an ion beam etching system), you will learn:
- Why is pre-preparation of samples important?
- What is essential for successful target preparation?
- What makes the “triple-beam technique” special?
- How do you prepare samples with irregular shapes?
Bring your own samples to the workshop and secure one of the 20 available participant spots—please register in advance.
Program
8.30–9.30 Welcome participants
9.30–9.40 Introduction of the day
9.40–10.00 Introduction of the Scientific Facility Nanostructuring Lab (NSL) at MPI FKF
10.00–10.45 Introduction to Ion Beam Milling
10.45–11.15 Coffee break
11.15–12.00 Preparation of your samples – characteristics & challenges
12.00–13.00 Lunch break
13.00–14.30 Sample preparation on EM TXP & EM TIC 3X
14.30–15.00 Coffee break
15.00–16.30 Sample preparation on EM TXP & EM TIC 3X (continued)
16.30–17.30 Round table and closing remarks
Workshop – Ionenstrahlpräparation von Festkörperproben
Ionenstrahlätzen ist heute die am weitesten verbreitete Methode zur Präparation von Proben für die Elektronenmikroskopie. Das Probenmaterial wird dabei mit einem hochenergetischen Argon-Ionenstrahl beschossen. Die Ionenenergie und der Beschusswinkel hängen von der entsprechenden Anwendung ab.
In diesem 1-tägigen Workshop werden Sie Zeit haben, um mit unseren Spezialisten Ihre Präparationsprobleme zu diskutieren. In mehreren Hands-on Sessions an Leica EM TXP (Präzisionsinstrument zur Probenvorbereitung) und an Leica EM TIC 3X (Ionenstrahlätzsystem) erfahren Sie:
- Welche Bedeutung spielt die Vorpräparation der Proben?
- Was ist wichtig für eine erfolgreiche Zielpräparation?
- Was ist das Besondere an der „Triple-Beam-Technik"?
- Wie präpariert man Proben mit unregelmäßiger Form?
Bringen Sie zum Workshop Ihre eigenen Proben mit und sichern Sie sich einen von 20 Teilnehmerplätzen, bitte registrieren Sie sich.
