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02
Dec
2025
空间组学新技术与新方法网络研讨会
China
•
Webinar
04
Dec
2025
Advancing Precision & Control in EM Micro Target Preparation
United States
•
Webinar
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Practical Applications of Broad Ion Beam Milling
Mechanical polishing can be time consuming and frustrating. It can also introduce unwanted artifacts when preparing cross-sectioned samples for electron backscatter diffraction (EBSD) in the scanning…
